Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов

СЗМ Раман Нано ИК система ИНТЕГРА Спектра II

НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра II объединяет возможности СЗМ с конфокальной микроскопией/спектроскопией комбинационного рассеяния (КР) и представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Система способна работать в режиме регистрации трехмерного пространственного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света, а также в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии, включая нано индентацию, нано манипуляцию и нано литографию.

Одновременно с оптическим наблюдением, ИНТЕГРА Спектра II позволяет исследовать объекты с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии — АСМ, МСМ, СТМ, сканирующей ближнепольной микроскопии и силовой спектроскопии. Уникальное совмещение оптических и зондовых методов в одном приборе позволяет ставить комплексные эксперименты, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств.

Отличительной чертой Нанолаборатории ИНТЕГРА Спектра II является возможность исследовать оптические свойства объектов за пределом дифракционных ограничений. Cканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и эффекты локального усиления комбинационного рассеяния (TERS — tip enhanced Raman scattering) дают возможность картировать распределение оптических свойств (пропускание, рассеяние, поляризация света и др.), а также осуществлять картирование спектров комбинационного рассеяния с пространственным разрешением до 50 нм в плоскости XY.

← Возврат на предыдущую страницу