8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ОБРАЗОВАНИЯ, НАУЧНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Электронные микроскопы для образования и науки

Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA 3 FEG SEM (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA - это третье поколение микроскопов высокого разрешения, оснащённых катодом Шоттки высокой яркости в качестве источника электронов (катодом с полевой эмиссией).

Особенности микроскопов третьего поколения MIRA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления качественных изображений и обработки сигналов.
  • Компенсация статических и динамических аберраций при ультравысоких скоростях сканирования.
  • Технология Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина, Широкое поле обзора и т.д.).
  • Программное обеспечение для управления, настройки и диагностики микроскопа, автоматизированные процедуры настройки.
  • Интегрированный программный модуль для нано-литографии нового поколения.
  • Встроенный язык программирования для создания собственных процедур автоматизации исследований.

Превосходные аналитические возможности:

  • Детекторы, сконструированные на основе высокочувствительных YAG кристаллов в качестве сцинтилляторов.
  • Обширный выбор опциональных детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты камеры микроскопа оптимизированы для аналитических детекторов.
  • Интегрированная активная электромагнитная подвеска в качестве опции эффективно подавляет влияние внешних вибраций.
  • Достижение рабочего вакуума в камере за несколько минут посредством мощных турбомолекулярного и форвакуумного насосов.
  • Модели микроскопов с переменным давлением в камере для исследования непроводящих образцов.
  • Несколько вариантов исполнения подвески колонны позволяют подобрать оптимальную для Вашей лаборатории защиту от внешних вибраций.
  • Измерение истинного 3D профиля, площади или объёма поверхности с помощью 3D реконструкции поверхности в опциональной программе MeX.

Микроскоп для прецизионных исследований FEG SEM MIRA 3 доступен с двумя вариантами размеров камер и с двумя вариантами исполнения камер по отношению к вакуумному режиму.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах MIRA, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan  www.tescan.ru/products.


Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх