8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеРЕНТГЕНОВСКИЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ И ОБОРУДОВАНИЕ Рентгеновские дифрактометры

Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов

Монокристальный дифрактометр R-AXIS-RAPID II с IP-детектором (Rigaku)

Монокристальный дифрактометр R-AXIS-RAPID II с IP-детектором (Rigaku)


Компактная, полностью интегрированная с высоким разрешением система для анализа структуры молекул малого размера R-AXIS RAPID II является одной из новинок в серии рентгеновских дифракционных систем RAPID с детектором в виде изогнутой пластины изображения IP (imaging plate) большой площади.

R-AXIS RAPID II сочетает в себе все компоненты, необходимые для высокоэффективной дифракционной системы, предоставляющей высокую производительность для большинства приложений прикладной и химической кристаллографии. Система работает с длинами волн от Cr до Ag без ущерба для качества данных. Значительная апертура позволяет легко получить весь спектр для любой длины волны. R-AXIS RAPID II является оптимальной системой для получения результатов при исследовании плотности заряда, исследовании диффузного рассеяния, микро-дифракции, измерениях слабо дифрагирующих неупорядоченных материалов, широкоугловое рассеяние рентгеновских лучей (WAXS), порошковую дифрактометрию, т.е. настолько универсален, что может заменить несколько инструментов, без ущерба для качества данных.


Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх