+7 727 250 2969

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеПРИБОРЫ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯРентгеновские спектрометры

Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов

Спектрометры последовательного действия серии PRIMUS (Rigaku)

Спектрометры последовательного действия серии PRIMUS (Rigaku)


Семейство мощных спектрометров последовательного действия PRIMUS продолжает традицию компании Rigaku предоставлять своевременно и бесперебойно наиточнейшие результаты, справляясь с любой задачей с непревзойдённой достоверностью, универсальностью в исследованиях и простотой в использовании.

Спектрометр ZSX Primus обеспечивает быстрое количественное определение основных и второстепенных атомных элементов, от бериллия (Be) до урана (U), в самых разных типах образцов - с минимальными стандартами. Инновационная конфигурация с расположением оптической системы наверху позволяет не тревожиться о загрязнении лучевого канала или о простоях, вызванных техническим обслуживанием камеры образца. Геометрия оптической системы с расположением наверху устраняет проблемы с поддержанием чистоты и увеличивает эффективное время работы прибора. Двойная вакуумная система, автоматический вакуумный контроль, анализ микро областей и визуализация места проведения микроанализа, высочайшая степень чувствительности к ультра лёгким элементам, автоматическая очистка нити проточного пропорционального счётчика и 30 микронная трубка (самая тонкая рентгеновская трубка с торцевым окном, гарантирующим простую и ясную характеризацию лёгких элементов) – основные преимущества спектрометров ZSX PRIMUS

Спектрометр ZSX Primus III+ - высокая точность позиционирования образца гарантирует, что расстояние между поверхностью образца и рентгеновской трубкой остается постоянным, что важно для приложений, требующих высокой точности, таких как анализ сплавов. ZSX Primus III + выполняет высокоточный анализ с использованием уникальной оптической конфигурации, разработанной для минимизации ошибок, вызванных неплоскими поверхностями в образцах, таких как оплавленные шарики и прессованные гранулы Программное обеспечение EZ-scan позволяет пользователям анализировать неизвестные образцы без какой-либо предварительной настройки. В сочетании с программным обеспечением SQX fundamental parameters прибор обеспечивает максимально точные и быстрые результаты рентгенографии, автоматически корректирует все эффекты матрицы, включая перекрытия линий, кроме того, позволяет корректировать эффект вторичного возбуждения фотоэлектронами (легкими и сверхлегкими элементами), учитывая различную атмосферу, примеси и различные размеры образцов.

Спектрометр ZSX Primus IV представляющий собой рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией длин волн (WDXRF), обеспечивает быстрое количественное определение основных и второстепенных атомных элементов, от бериллия (Be) до урана (U), в самых разных типах образцов - с минимальными стандартами. Новое программное обеспечение экспертной системы наведения ZSX XRF поможет вам во всех аспектах измерения рентгеновского излучения и анализа данных. Программное обеспечение, основанное на опыте и ноу-хау квалифицированных специалистов в области рентгенографии, обеспечивает сложные настройки. Операторы просто вводят основную информацию об образцах, компонентах для анализа и стандартном составе. Измеренные линии с наименьшим перекрытием, оптимальный фон и параметры коррекции (включая перекрытия линий) устанавливаются автоматически с помощью качественных спектров. Конфигурация оптики позволяет не беспокоится о загрязненном пути луча или времени простоя из-за обслуживания камеры для образцов и устраняет проблемы с очисткой, а также увеличивает время работы, что обеспечивает превосходную производительность при гибкости анализа

Спектрометр ZSX Primus IVi - высокопроизводительная модель с трубкой снизу позволяет проводить анализ образцов, таких как жидкости, сплавы и металлы с покрытием. Обеспечивая превосходную производительность и гибкость при анализе самых сложных образцов, спектрометр ZSX Primus IVi  WDXRF  оснащен 30-микронным окном Be-трубки, самым тонким стандартным окном трубки в отрасли, что обеспечивает исключительные пределы обнаружения легких элементов (low-Z). Вакуумная (разделительная) система для анализа жидкостей позволяет осуществлять переход из вакуумной атмосферы в гелиевую менее чем за две минуты. Кроме того, потребление газообразного гелия значительно снижается по сравнению с моделями, в которых камера спектрометра должна быть продута. Улучшенная пропускная способность обеспечивается улучшенной механикой, а это сводит к минимуму время простоя анализа. Система цифрового многоканального анализатора (D-MCA) обеспечивает высокоскоростную цифровую обработку с высокой скоростью счета для повышения точности анализа и увеличения пропускной способности.

Спектрометр ZSX Primus400 - уникальный рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией длин волн (WD-XRF) был специально разработан для обработки очень больших и/или тяжелых образцов. Работая с образцами диаметром до 400 мм, толщиной 50 мм и массой 30 кг, эта система идеально подходит для анализа распыляемых мишеней, магнитных дисков или для метрологии многослойных пленок или элементного анализа больших образцов. Адаптер для отбора проб (по индивидуальному заказу) обладает универсальностью для адаптации к конкретным типам образцов и потребностям анализа (адаптирован к различным размерам и формам образцов). Благодаря переменной точке измерения (диаметр от 30 мм до 0,5 мм, с 5-ступенчатым автоматическим выбором) и возможности сопоставления с многоточечными измерениями для проверки однородности образца, этот уникально гибкий прибор может значительно упростить ваши процессы контроля качества. Картирование образца с применением CCD камеры и специальной подсветки позволяют получать рентгеновские снимки в режиме реального времени и просматривать область анализа. Оператор имеет полную уверенность в том, что измеряется. В наличии специальный держатель для образцов неправильной формы. Измерение толщины слоя в диапазоне от субангстремного уровня до 1 мм. 


Системные и комплексные

подходы для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх