8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыОБОРУДОВАНИЕ И ПРИБОРЫ КОМПАНИИ RIGAKU Рентгеновские дифрактометры

Партнерские программы для образования, науки и промышленности

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)


В многофункциональном рентгеновском дифрактометре Ultima IV реализована автоматическая юстировка (все перемещения настраиваются в автоматическом режиме, а ручные операции при юстировке сведены к минимуму), а запатентованная Ригаку СВО (Cross Beam Optics) оптика позволяет исключить временные затраты при переходе от одной геометрии к другой (от фокусировки по Брэггу-Брентано к параллельному пучку), допускает ежедневное использование обоих геометрий без необходимости перенастройки системы, не подвержена износу и позволяет проводить качественный и количественный фазовый анализ, анализ тонких плёнок, анализ напряжений, локальный фазовый анализ, 3-x мерный структурный анализ, анализ многослойных структур, рентгеновскую рефлектометрию, анализ эпитаксиальных слоистых структур, анализ при низких и высоких температурах, объединённый DSC – XRD анализ:

  • Радиус гониометра: 185 и 285 мм.
  • Приставка вращения образца – усреднение ошибки интенсивности при анализе образцов с крупным размером зерна.
  • Приставка для капилляров – стеклянные капилляры.
  • Автоматический сменщик образцов – автоматическая смена образцов (до 10 шт.).
  • Многофункциональная приставка – подвижные χ, ɸ, и Z оси для анализа текстуры и остаточных напряжений.
  • SAXS модуль – анализ размера наночастиц (на просвет).
  • Модуль локального анализа – дифрактометрический анализ локальных областей с использованием автоматической xyz платформы.
  • Усовершенствованная приставка для тонких пленок – приставка с прецизионной юстировкой образца.
  • Ge щелевой кристалл-монохроматор – дифрактометрия высокого разрешения, рефлектометрии и анализ кривых качания.
  • Высокотемпературная камера HT 1500 – 1400°С (в инертном газе) и до 1500°С (в вакууме).
  • Камера для низких и средних температур – 180°С – 300°С (в вакууме).
  • Дифференциальный сканирующий калориметр – одновременный DSC – XRD анализ при Т до 350°С.
  • Скоростной полупроводниковый многоканальный одномерный детектор D-tex Ultra, не требующий системы охлаждения - энергетическое разрешение менее 25%, отрезает Kb линию и фон, при скорости счета в 100 раз выше, чем у сцинтилляционного счётчика и динамическим диапазоном свыше 1 млн. имп. на канал.
Файл на скачивание ()
Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх