8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыУСТРОЙСТВА И ОБОРУДОВАНИЕ КОМПАНИИ TESCANСканирующие электронные микроскопы

Партнерские программы для образования, науки и промышленности

Сканирующий электронный микроскоп MAIA 3 (Tescan)


Сканирующий электронный микроскоп MAIA3 (модель 2016 года) обладает ультравысоким разрешением с прекрасными возможностями для получения изображений во всем диапазоне ускоряющих напряжений пучка электронов. Многозадачный набор детекторов совместно с высоким пространственным разрешением позволяют наблюдать мельчайшие детали поверхности образца. Это особенно важно для комплексного описания наноматериалов, для наблюдения образцов, чувствительных к повреждающему воздействию пучка электронов (а подобные образцы распространены в полупроводниковой индустрии), для комфортного изучения непроводящих образцов, включая ненапыленные био-материалы.

Основные преимущества:

  • Превосходное разрешение с иммерсионной линзой ультравысокого разрешения (угол раствора конуса иммерсионной линзы 60°). Полностью новая аналитическая линза высокого разрешения для работы в не иммерсионном режиме (так называемом "аналитическом режиме"). Переделанная промежуточная линза для сверхбольших полей обзора.
  • Уникальная комбинация режима "crossover-free" и линзы ультравысокого разрешения позволяет получать отличные изображения.
  • Традиционная для TESCAN конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами (технология Wide Field Optics™) для реализации нескольких режимов сканирования (Разрешение, расширенная Глубина резкости, Широкое поле обзора и проч.).
  • EquiPower™ для превосходной стабильности колонны.
  • Новый дизайн электронной пушки с катодом Шоттки теперь позволяет работать при токе электронного пучка вплоть до 400 нА, а также смена ускоряющего напряжения пучка электронов происходит быстро.
  • Исследование пластин диаметром вплоть до 12 дюймов, благодаря опции "расширенная камера образцов" и специальным держателям для удобного неповреждающего закрепления пластин.
  • Три модификации детектора отраженных электронов TriBE™ для сбора BSE-сигнала с селекцией по углу. Детекторы Mid-Angle BSE и In-Beam LE-BSE локализованы внутри колонны и регистрируют отраженные электроны, рассеянные на небольшие углы и распространяющиеся вдоль оси колонны, соответственно. Детектор In-Chamber BSE собирает BSE-электроны, отраженные на большие углы. При совместном использовании эти три детектора отраженных электронов позволяют получать контрастные изображения в ситуациях с разными закономерностями формирования контраста. Также возможно детектирование сигнала при работе с пучком электронов сверх-малой энергии, вплоть до 200 эВ.
  • Три модификации детектора вторичных электронов TriSE™ разработаны, чтобы оптимально собирать сигнал вторичных электронов при любых рабочих расстояниях и при любых режимах работы электронной колонны. Детектор In-Beam SE внутри колонны позволяет детектировать SE-электроны при работе с очень малыми рабочими расстояниями. SE-детектор для режима торможения пучка (BMD) демонстрирует превосходное разрешение в режиме BDM. In-Chamber SE детектор обеспечивает превосходный топографический контраст.
  • Режим торможения пучка электронов (BDM) для сохранения превосходного пространственного разрешения при очень низких энергиях первичного пучка (вплоть до 50 эВ).
  • Технология In-Flight Beam Tracing™ для определения и оптимизации параметров пучка электронов в реальном времени (идет непрерывный мониторинг таких параметров, как диаметр пучка и ток пучка).
  • Расширенный режим низкого вакуума с давлением в камере до 500 Па для изучения непроводящих образцов без какого-либо напыления.

MAIA 3 (модель 2016 года) —идеальный выбор для исследований непроводящих и деградирующих под электронным пучком образцов (все типы биологических образцов в их естественном состоянии). Этот сканирующий электронный микроскоп удовлетворяет возросшим требованиям во всех сферах науки и технологий, обеспечивая исследователей высококачественными изображениями при низких энергиях пучка электронов и эффективно применяется в материаловедении, полупроводниках, оптоэлектронике, гелиотехнике, литографии и науках о живом

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией об электронных микроскопах MAIA 3 (модель 2016 года), обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании Tescan по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх