8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыУСТРОЙСТВА И ОБОРУДОВАНИЕ КОМПАНИИ TESCANИнструменты и аксессуары для нанотехнологий

Партнерские программы для образования, науки и промышленности

Детекторы (Tescan)


Детектор SE - cтандартный детектор вторичных электронов (SE - secondary electrons) позволяет получать изображения с топографическим контрастом. Таким детектором, классической конструкции типа Эверхардта-Торнлей, по умолчанию оснащаются все электронные микроскопы Tescan. На микроскопах серии Mira дополнительно может быть установлен детектор вторичных электронов, встроенный в объективную линзу - InBeam, который позволяет получать изображения высокого качества как при низких ускоряющих напряжениях, так и при коротких фокусных расстояниях

Детекторы BSE (BSE - backscattered electrons) отраженных электронов предназначены для получения изображения с информацией о вариациях состава на основе контраста по среднему атомному номеру. Большинство моделей электронных микроскопов Tescan поставляется вместе с высокочувствительным детектором отраженных электронов на базе сцинтилляторного YAG кристалла. Такие детекторы обладают низким уровнем шума, не чувствительны к вторичным электронам и имеют высокое быстродействие. Для решения специализированных задач имеется возможность установки много сегментных детекторов отраженных электронов.

Детектор LVSTD (Low Vacuum Secondary Tescan Detector) – детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли, специально разработанный для режима низкого вакуума. Он наиболее подходит для изучения топографии поверхности непроводящих образцов. Детектор LVSTD оснащен собственным турбомолекулярным насосом для откачки объема детектора, что позволяет изучать топографию образцов без токопроводящего покрытия образцы в условиях низкого вакуума. Детектор также подходит для изучения поверхности пористых и влагосодержащих образцов.

Детектор катодолюминесценции предназначен для поиска и определения параметров включений, дефектов и границ зерен в материалах различной природы. Эффективный световод в сочетании с зеркальной системой позволяют за короткое время получать CL изображения высокого качества. Детектор интегрирован в микроскоп и управляется через программную оболочку. Для стандартного спектрального диапазона возможна установка как отдельного CL детектора, так и CL детектора со сменным наконечником, совмещенного с детектором BSE.

Детектор прошедших электронов специальное устройство, позволяющее получать изображения в проходящих электронах – TE детектор для исследования методом сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM- scanning transmission electron microscopy). Для исследования биологических объектов просвечивающая электронная микроскопия используется гораздо чаще чем сканирующая. Детектор размещается на стандартном столике образцов микроскопа и позволяет получать изображения такие же, как на просвечивающем электронном микроскопе, но со всеми преимуществами сканирующего электронного микроскопа.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о всех моделях детекторов для сканирующих электронных микроскопов, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании Tescan по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх