8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ НАУЧНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Электронные микроскопы для образования и науки

Электронные микроскопы для образования и науки

Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA 3 (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA была спроектирована для широкого круга применений и потребностей в современных областях науки и промышленности. Все наработки за десятилетнюю историю непрерывного развития микроскопов серии Vega были воплощены в третьем поколении.

Основные особенности поколения VEGA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
  • Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
  • Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
  • Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.
  • Обновлённое программное обеспечение с высоким уровнем автоматизации.
  • Программное обеспечение со встроенным языком программирования (Python) для расширения возможностей пользователей.

Аналитический потенциал:

  • Чувствительные детекторы электронов с высококлассными YAG кристаллами.
  • Широкий выбор детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты рабочей камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX и EBSD.
  • Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают достижение рабочего вакуума за несколько минут.
  • Исследования непроводящих образцов в их естественном состоянии при переменном уровне вакуума в камере образцов.
  • Несколько типов подвески камеры образцов и колонны на выбор для эффективного снижения влияния внешних вибраций.
  • 3D-измерения реконструированной поверхности с использованием интегрированного ПО.

На данный момент серия VEGA 3 представлена 6 моделями отличных микроскопов различающихся по размеру камеры образцов, диапазоном перемещения столика, возможностью работы в переменном вакууме и антивибрационной подвеской для защиты от внешних вибраций.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах VEGA 3, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA 3 FEG SEM (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA - это третье поколение микроскопов высокого разрешения, оснащённых катодом Шоттки высокой яркости в качестве источника электронов (катодом с полевой эмиссией).

Особенности микроскопов третьего поколения MIRA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления качественных изображений и обработки сигналов.
  • Компенсация статических и динамических аберраций при ультравысоких скоростях сканирования.
  • Технология Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина, Широкое поле обзора и т.д.).
  • Программное обеспечение для управления, настройки и диагностики микроскопа, автоматизированные процедуры настройки.
  • Интегрированный программный модуль для нано-литографии нового поколения.
  • Встроенный язык программирования для создания собственных процедур автоматизации исследований.

Превосходные аналитические возможности:

  • Детекторы, сконструированные на основе высокочувствительных YAG кристаллов в качестве сцинтилляторов.
  • Обширный выбор опциональных детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты камеры микроскопа оптимизированы для аналитических детекторов.
  • Интегрированная активная электромагнитная подвеска в качестве опции эффективно подавляет влияние внешних вибраций.
  • Достижение рабочего вакуума в камере за несколько минут посредством мощных турбомолекулярного и форвакуумного насосов.
  • Модели микроскопов с переменным давлением в камере для исследования непроводящих образцов.
  • Несколько вариантов исполнения подвески колонны позволяют подобрать оптимальную для Вашей лаборатории защиту от внешних вибраций.
  • Измерение истинного 3D профиля, площади или объёма поверхности с помощью 3D реконструкции поверхности в опциональной программе MeX.

Микроскоп для прецизионных исследований FEG SEM MIRA 3 доступен с двумя вариантами размеров камер и с двумя вариантами исполнения камер по отношению к вакуумному режиму.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах MIRA, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Серия сканирующих электронных микроскопов VELA 3 FIBxSEM (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов VELA FIBxSEM - это удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Возможность модификации поверхности сфокусированным ионным пучком расширяет границы применения электронного микроскопа.

Характеристики электронной колонны (SEM):

  • Колонна SEM на основе VEGA 3 Wide Field Optics™ с вольфрамовым катодом с термоэмиссией.
  • Обновлённая технология In-Flight Beam Tracing™ для контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров пучка электронов.

Функции колонны SEM:

  • Получение изображений
  • Реализация возможностей микроанализа.
  • Навигация по образцам.
  • Литография электронным пучком (доступно при наличии опционального прерывателя электронного зонда Beam Blanker).

Характеристики ионной колонны (FIB):

  • Ионная колонна с уникальной ионной оптикой, оснащённая жидкометаллическим источником ионов галлия и откачивающаяся двумя независимыми ионными насосами для минимизации эффекта рассеяния.
  • Моторизованный механизм высокой точности для смены апертур. Прерыватель зонда и ячейка Фарадея в стандартной комплектации.

Функции колонны FIB:

  • Микро/нано модификация поверхности образцов.
  • Литография ионным пучком.

Характеристики системы инжектирования газов (GIS):

  • Несколько независимых резервуаров с газом в стандартной комплектации.
  • Осаждение проводящих или непроводящих материалов.
  • Селективное или улучшенное травление в присутствии различных газов.
  • Опционально доступна Mono-GIS система.

Характеристики нано манипуляторов:

  • Манипулирование (например, перемещение ламелей для просвечивающей микроскопии).
  • Тестирование материалов.
  • Инструменты для обработки.
  • Нанозондирование и тестирование.

Два варианта исполнения VELA 3 FIBxSEM - модель с рабочим значением вакуума в камере образцов порядка 10-3 Па используется для исследований токопроводящих образцов и модель для работы при переменном вакууме в камере образцов (до 500 Па), при переходе в режим низкого вакуума дополнительно позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного нанесения токопроводящего слоя.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах VELA FIBxSEM, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG - это удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа высокого разрешения и ионной колонны с различными дополнениями, что превращает LYRA 3 FEG в модель для самых взыскательных пользователей.
Описание системы:

  • Полностью интегрированное в ПО микроскопа управление электронной колонной (SEM), ионной колонной (FIB) и системой инжектирования газов (GIS).
  • Новое поколение модуля для нано литографии DrawBeam с возможностью программирования собственных процедур автоматизации.
  • Максимально большая камера образцов с геометрией портов, оптимизированной для задач микроанализа.
  • Характеристики электронной колонны (FEG SEM)
  • Колонна SEM на основе MIRA 3 Wide Field OpticsTM c катодом с полевой эмиссией (катодом Шоттки) и с уникальной трехлинзовой электронной оптикой Wide Field OpticsTM для оптимизации формы и размера пучка.

Функции колонны SEM:

  • Получение изображений.
  • Реализация возможностей микроанализа.
  • Навигация по образцам.
  • Литография электронным пучком (доступно при установке опционального прерывателя электронного зонда Beam Blanker).
  • Характеристики ионной колонны (FIB).
  • Ионная колонна с уникальной ионной оптикой, оснащённая жидкометаллическим источником ионов галлия и откачивающаяся двумя независимыми ионными насосами для минимизации эффекта рассеяния.
  • Моторизованный механизм высокой точности для смены апертур. Прерыватель зонда и ячейка Фарадея в стандартной комплектации.

Функции колонны FIB:

  • Микро/нано модификация поверхности образцов.
  • Литография ионным пучком.
  • Характеристики системы инжектирования газов (GIS).
  • Несколько независимых резервуаров с газом в стандартной комплектации.
  • Осаждение проводящих или непроводящих материалов.
  • Селективное или улучшенное травление в присутствии различных газов.
  • Опционально доступна Mono-GIS система.

Характеристики нано манипуляторов:

  • Манипулирование (например, перемещение ламелей для просвечивающей микроскопии).
  • Тестирование материалов.
  • Инструменты для обработки.
  • Нанозондирование и тестирование.

Варианты исполнения LYRA 3 FEG - модель с рабочим значением вакуума в камере образцов порядка 10-3 Па используется для исследований токопроводящих образцов и модель для работы при переменном вакууме в камере образцов (вплоть до 150 Па). Сохраняя все преимущества работы в режиме высокого вакуума, при переходе в режим низкого вакуума дополнительно позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного нанесения токопроводящего слоя.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах LYRA 3 FEG, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Система для автоматического минералогического анализа TIMA (Tescan)


Система для автоматического минералогического анализа TIMA (the TESCAN Integrated Mineral Analyzer) разработанная компанией позволяет выполнять автоматический минералогический анализ или автоматический анализ раскрытий и ассоциаций минералов, оценивать эффективность процессов дробления и обогащения, надёжно диагностировать в образцах зерна редких минералов с драгоценными или с редкоземельными металлами, строить распределения зёрен или частиц по морфологическим признакам.

Уникальность технологии, предложенной TESCAN, заключается в высокой степени интеграции между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX), благодаря чему сбор данных, объединяющих в себе электронные изображения и характеристические спектры с каждого пикселя изображения, происходит с беспрецедентно высокой скоростью и в полностью автоматическом режиме. В большой камере образцов находится управляемый с компьютера столик с прецизионным перемещением, в который монтируется специальный держатель для минералогических образцов (до 7 образцов диаметром 30 мм). В центре держателя размещены стандарты для автоматической калибровки энергодисперсионных спектрометров (EDX) и детектора отражённых электронов (BSE). Стандарты включают в себя платиновую ячейку Фарадея (для автоматической настройки уровня BSE-сигнала), Mn, Cu, С, Au, кварц (набор стандартов может быть изменён по запросу пользователя).

Преимущества TIMA:

  • Быстрый и полностью автоматический сбор данных, скорость которого обусловлена, прежде всего, глубокой аппаратной интеграцией между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX).
  • Реализация на базе SEM с вольфрамовым термо-катодом либо с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки.
  • Съёмные держатели образцов видоизменённого дизайна со встроенными стандартами для калибровки BSE/EDX и с ячейкой Фарадея.
  • Возможность монтирования образцов переменного размера.
  • На одну систему может быть установлено вплоть до 4-х энергодисперсионных спектрометров (EDX), что позволяет добиться максимальной производительности.
  • Применение без азотных EDX спектрометров с охлаждением Пельтье гарантирующих термическую стабильность.
  • Улучшенный подход к сбору и обработке данных повышает скорость и надёжность анализа.
  • Варьируемая длительность сбора спектра с каждого пикселя (dwell-time) даёт возможность оптимизировать время анализа каждого минерала.
  • Программное обеспечение выпускается в трёх модификациях.
  • Модульная схема программного обеспечения.
  • Классификационные схемы, настраиваемые пользователем.
  • Оптимальное соотношение цены и возможностей.
  • Индивидуальная модификация системы «на заказ».

С более подробной информацией о системе для автоматического минералогического анализа TIMA, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Сканирующий электронный микроскоп INDUSEM (Tescan)


Сканирующий электронный микроскоп INDUSEM - это новая модель сканирующего электронного микроскопа, предназначенная для промышленных применений. Система спроектирована на основе третьего поколения VEGA SEMs с максимально большой камерой образцов. Благодаря компактному исполнению и возможности лёгкой транспортировки, электронный микроскоп INDUSEM является идеальным решением для высокоточного контроля качества и обнаружения отказов применительно к производственным процессам различных типов непосредственно на рабочем месте.

Особенности модели ориентированной на производственные условия:

  • Компактное исполнение и колёсная база для лёгкой транспортировки.
  • Максимально большая камера и надёжный столик образцов для размещения больших и тяжёлых объектов.
  • Возможность работы с переменным вакуумом в камере для исследования различных образцов, в том числе и не проводящих электрический ток.
  • Удобный сенсорный интерфейс управления для быстрого анализа образцов.
  • Активная электромагнитная подвеска эффективно снижает влияние внешних вибраций.

Аналитический потенциал:

  • Чувствительные детекторы электронов сцинтилляционного типа с высококлассными YAG кристаллами.
  • Широкий выбор опциональных детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX, EBSD.
  • Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают достижение рабочего вакуума за несколько минут.

Автоматизация:

  • Исполнение колонны без механически центрируемых элементов позволяет сделать настройку и регулировку электронно-оптической системы полностью автоматической.
  • Программное обеспечение с высоким уровнем автоматизации для настройки, регулировки и работы.
  • Опциональные программные модули для автоматизации анализа частиц на образце большой площади.
  • Встроенный язык программирования (Python) с доступом к управляющим функциям СЭМ для создания собственных процедур автоматизации исследований.

С более подробной информацией о сканирующем электронном микроскопе INDUSEM, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan.

Информацию о приборах и оборудовании аналогичного назначения других производителей, Вы можете узнать, задав свои вопросы на странице Контакты нашего сайта.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх