8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ОБРАЗОВАНИЯ, НАУЧНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Электронные микроскопы для образования и науки

Электронные микроскопы для образования и науки

Использование современной компонентной базы и передовых технологических решений позволяет компании Tescan быстро реагировать на потребности рынка и создавать модели микроскопов с всевозможными характеристиками для решения широкого круга уникальных задач. 

Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA 3 (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA была спроектирована для широкого круга применений и потребностей в современных областях науки и промышленности. Все наработки за десятилетнюю историю непрерывного развития микроскопов серии Vega были воплощены в третьем поколении.

Основные особенности поколения VEGA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
  • Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
  • Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
  • Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.
  • Обновлённое программное обеспечение с высоким уровнем автоматизации.
  • Программное обеспечение со встроенным языком программирования (Python) для расширения возможностей пользователей.

Аналитический потенциал:

  • Чувствительные детекторы электронов с высококлассными YAG кристаллами.
  • Широкий выбор детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты рабочей камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX и EBSD.
  • Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают достижение рабочего вакуума за несколько минут.
  • Исследования непроводящих образцов в их естественном состоянии при переменном уровне вакуума в камере образцов.
  • Несколько типов подвески камеры образцов и колонны на выбор для эффективного снижения влияния внешних вибраций.
  • 3D-измерения реконструированной поверхности с использованием интегрированного ПО.

На данный момент серия VEGA 3 представлена 8 модификациями отличных микроскопов различающихся по размеру камеры образцов, диапазоном перемещения столика, возможностью работы в переменном вакууме и антивибрационной подвеской для защиты от внешних вибраций.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах VEGA 3, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan  www.tescan.ru/products.

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA 3 FEG SEM (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA - это третье поколение микроскопов высокого разрешения, оснащённых катодом Шоттки высокой яркости в качестве источника электронов (катодом с полевой эмиссией).

Особенности микроскопов третьего поколения MIRA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления качественных изображений и обработки сигналов.
  • Компенсация статических и динамических аберраций при ультравысоких скоростях сканирования.
  • Технология Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина, Широкое поле обзора и т.д.).
  • Программное обеспечение для управления, настройки и диагностики микроскопа, автоматизированные процедуры настройки.
  • Интегрированный программный модуль для нано-литографии нового поколения.
  • Встроенный язык программирования для создания собственных процедур автоматизации исследований.

Превосходные аналитические возможности:

  • Детекторы, сконструированные на основе высокочувствительных YAG кристаллов в качестве сцинтилляторов.
  • Обширный выбор опциональных детекторов и аксессуаров.
  • Интерфейсные порты камеры микроскопа оптимизированы для аналитических детекторов.
  • Интегрированная активная электромагнитная подвеска в качестве опции эффективно подавляет влияние внешних вибраций.
  • Достижение рабочего вакуума в камере за несколько минут посредством мощных турбомолекулярного и форвакуумного насосов.
  • Модели микроскопов с переменным давлением в камере для исследования непроводящих образцов.
  • Несколько вариантов исполнения подвески колонны позволяют подобрать оптимальную для Вашей лаборатории защиту от внешних вибраций.
  • Измерение истинного 3D профиля, площади или объёма поверхности с помощью 3D реконструкции поверхности в опциональной программе MeX.

Микроскоп для прецизионных исследований FEG SEM MIRA 3 доступен с двумя вариантами размеров камер и с двумя вариантами исполнения камер по отношению к вакуумному режиму.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах MIRA, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan  www.tescan.ru/products.

Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG - это удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа высокого разрешения и ионной колонны с различными дополнениями, что превращает LYRA 3 FEG в модель для самых взыскательных пользователей.
Описание системы:

  • Полностью интегрированное в ПО микроскопа управление электронной колонной (SEM), ионной колонной (FIB) и системой инжектирования газов (GIS).
  • Новое поколение модуля для нано литографии DrawBeam с возможностью программирования собственных процедур автоматизации.
  • Максимально большая камера образцов с геометрией портов, оптимизированной для задач микроанализа.
  • Характеристики электронной колонны (FEG SEM)
  • Колонна SEM на основе MIRA 3 Wide Field OpticsTM c катодом с полевой эмиссией (катодом Шоттки) и с уникальной трехлинзовой электронной оптикой Wide Field OpticsTM для оптимизации формы и размера пучка.

Функции колонны SEM:

  • Получение изображений.
  • Реализация возможностей микроанализа.
  • Навигация по образцам.
  • Литография электронным пучком (доступно при установке опционального прерывателя электронного зонда Beam Blanker).
  • Характеристики ионной колонны (FIB).
  • Ионная колонна с уникальной ионной оптикой, оснащённая жидкометаллическим источником ионов галлия и откачивающаяся двумя независимыми ионными насосами для минимизации эффекта рассеяния.
  • Моторизованный механизм высокой точности для смены апертур. Прерыватель зонда и ячейка Фарадея в стандартной комплектации.

Функции колонны FIB:

  • Микро/нано модификация поверхности образцов.
  • Литография ионным пучком.
  • Характеристики системы инжектирования газов (GIS).
  • Несколько независимых резервуаров с газом в стандартной комплектации.
  • Осаждение проводящих или непроводящих материалов.
  • Селективное или улучшенное травление в присутствии различных газов.
  • Опционально доступна Mono-GIS система.

Характеристики нано манипуляторов:

  • Манипулирование (например, перемещение ламелей для просвечивающей микроскопии).
  • Тестирование материалов.
  • Инструменты для обработки.
  • Нанозондирование и тестирование.

Варианты исполнения LYRA 3 FEG - модель с рабочим значением вакуума в камере образцов порядка 10-3 Па используется для исследований токопроводящих образцов и модель для работы при переменном вакууме в камере образцов (вплоть до 150 Па). Сохраняя все преимущества работы в режиме высокого вакуума, при переходе в режим низкого вакуума дополнительно позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного нанесения токопроводящего слоя.

С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах LYRA 3 FEG, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan  www.tescan.ru/products.

Система для автоматического минералогического анализа TIMA (Tescan)


Система для автоматического минералогического анализа TIMA (the TESCAN Integrated Mineral Analyzer) разработанная компанией позволяет выполнять автоматический минералогический анализ или автоматический анализ раскрытий и ассоциаций минералов, оценивать эффективность процессов дробления и обогащения, надёжно диагностировать в образцах зерна редких минералов с драгоценными или с редкоземельными металлами, строить распределения зёрен или частиц по морфологическим признакам.

Уникальность технологии, предложенной TESCAN, заключается в высокой степени интеграции между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX), благодаря чему сбор данных, объединяющих в себе электронные изображения и характеристические спектры с каждого пикселя изображения, происходит с беспрецедентно высокой скоростью и в полностью автоматическом режиме. В большой камере образцов находится управляемый с компьютера столик с прецизионным перемещением, в который монтируется специальный держатель для минералогических образцов (до 7 образцов диаметром 30 мм). В центре держателя размещены стандарты для автоматической калибровки энергодисперсионных спектрометров (EDX) и детектора отражённых электронов (BSE). Стандарты включают в себя платиновую ячейку Фарадея (для автоматической настройки уровня BSE-сигнала), Mn, Cu, С, Au, кварц (набор стандартов может быть изменён по запросу пользователя).

Преимущества TIMA:

  • Быстрый и полностью автоматический сбор данных, скорость которого обусловлена, прежде всего, глубокой аппаратной интеграцией между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX).
  • Реализация на базе SEM с вольфрамовым термо-катодом либо с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки.
  • Съёмные держатели образцов видоизменённого дизайна со встроенными стандартами для калибровки BSE/EDX и с ячейкой Фарадея.
  • Возможность монтирования образцов переменного размера.
  • На одну систему может быть установлено вплоть до 4-х энергодисперсионных спектрометров (EDX), что позволяет добиться максимальной производительности.
  • Применение без азотных EDX спектрометров с охлаждением Пельтье гарантирующих термическую стабильность.
  • Улучшенный подход к сбору и обработке данных повышает скорость и надёжность анализа.
  • Варьируемая длительность сбора спектра с каждого пикселя (dwell-time) даёт возможность оптимизировать время анализа каждого минерала.
  • Программное обеспечение выпускается в трёх модификациях.
  • Модульная схема программного обеспечения.
  • Классификационные схемы, настраиваемые пользователем.
  • Оптимальное соотношение цены и возможностей.
  • Индивидуальная модификация системы «на заказ».

С более подробной информацией о системе для автоматического минералогического анализа TIMA, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan  www.tescan.ru/products.

Серия сканирующих электронных микроскопов FERA 3 (Tescan)


Новое поколение двухлучевых сканирующих электронных микроскопов с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки и дополнительной ионной колонной разработано с привлечением самых современных технологий, сохраняя наилучшее соотношение цена/возможности - новая улучшенная высокопроизводительная электроника для более быстрого накопления изображений, ультра скоростная сканирующая система с компенсацией статических и динамических аберраций изображения, встроенный язык программирования для создания собственных пользовательских процедур. Великолепное пространственное разрешение электронной колонны даже при высоких плотностях тока пучка электронов, сверхбыстрая скорость травления ионным пучком, а также мощное программное обеспечение превращают двухлучевой микроскоп FERA 3 в великолепный инструмент как для элементного и текстурного микроанализа, так и для многих других применений в различных областях науки и индустрии.

Особенности микроскопов FERA 3:

  • Катод Шоттки высокой яркости в качестве источников электронов гарантирует накопление изображений с прекрасным пространственным разрешением и с одновременной высокой плотностью тока пучка электронов, благодаря чему достигается высокое отношение «сигнал/шум».
  • Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами (технология Wide Field Optics™) позволяет использовать оптическую систему в различных режимах: Разрешение, Глубина фокуса, Поле, Широкое поле, Качающийся зонд.
  • Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью электромагнита – запатентованная промежуточная линза (IML) работает в качестве устройства смены апертуры. Конструкция колонны микроскопа без единого механически центрируемого элемента позволяет автоматизировать все процедуры настройки, включая юстировку и центрирование электронной оптики.
  • Запатентованная технология In-Flight Beam TracingTM, интегрированная с выверенным программным модулем Electron Optical Design, служит для вычисления с высокой точностью параметров пучка в реальном времени и оптимизации этих параметров «на лету», что позволяет, в частности, напрямую задавать желаемый диаметр зонда либо ток зонда в непрерывном диапазоне.
  • Опциональные SE- и BSE-детекторы, встроенные в полюсный наконечник объективной линзы, расширяют возможности микроскопа по созданию изображений высокого разрешения.
  • Все процедуры юстировки и настройки электронной оптики автоматизированы.
  • Ультра-высокая скорость сканирования.
  • Благодаря передовой технологии 3D Beam Technology оператору доступны уникальные живые стереоскопические изображения, которые открывают изумительный трехмерный микро- и нано-мир для 3D-исследований и 3D-навигации.

Программное обеспечение микроскопа локализовано под много языков (в том числе русский). Каждый оператор имеет один из 4-х возможных уровней доступа, включая уровень EasySEMTM для быстрых рутинных исследований. Все обновления ПО бесплатны.

Два варианта исполнения микроскопа FERA 3, причем каждая в двух модификациях характеризуются непревзойденными оптическими свойствами, немерцающим цифровым изображением превосходного качества, а дружественное программное обеспечение управления микроскопами, накопления и обработки изображений в стандартных форматах сохранения изображений, реализует кроме того - архивирование, обработку и удобный просмотр изображений, проведение измерений на изображении, автоматическую настройку микроскопов и множество других автоматизированных процедур.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии электронных микроскопов FERA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании Tescan  http://www.tescan.ru/products.

Сканирующий электронный микроскоп MAIA 3 (Tescan)


Сканирующий электронный микроскоп MAIA3 (модель 2016 года) обладает ультравысоким разрешением с прекрасными возможностями для получения изображений во всем диапазоне ускоряющих напряжений пучка электронов. Многозадачный набор детекторов совместно с высоким пространственным разрешением позволяют наблюдать мельчайшие детали поверхности образца. Это особенно важно для комплексного описания наноматериалов, для наблюдения образцов, чувствительных к повреждающему воздействию пучка электронов (а подобные образцы распространены в полупроводниковой индустрии), для комфортного изучения непроводящих образцов, включая ненапыленные био-материалы.

Основные преимущества:

  • Превосходное разрешение с иммерсионной линзой ультравысокого разрешения (угол раствора конуса иммерсионной линзы 60°). Полностью новая аналитическая линза высокого разрешения для работы в не иммерсионном режиме (так называемом "аналитическом режиме"). Переделанная промежуточная линза для сверхбольших полей обзора.
  • Уникальная комбинация режима "crossover-free" и линзы ультравысокого разрешения позволяет получать отличные изображения.
  • Традиционная для TESCAN конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами (технология Wide Field Optics™) для реализации нескольких режимов сканирования (Разрешение, расширенная Глубина резкости, Широкое поле обзора и проч.).
  • EquiPower™ для превосходной стабильности колонны.
  • Новый дизайн электронной пушки с катодом Шоттки теперь позволяет работать при токе электронного пучка вплоть до 400 нА, а также смена ускоряющего напряжения пучка электронов происходит быстро.
  • Исследование пластин диаметром вплоть до 12 дюймов, благодаря опции "расширенная камера образцов" и специальным держателям для удобного неповреждающего закрепления пластин.
  • Три модификации детектора отраженных электронов TriBE™ для сбора BSE-сигнала с селекцией по углу. Детекторы Mid-Angle BSE и In-Beam LE-BSE локализованы внутри колонны и регистрируют отраженные электроны, рассеянные на небольшие углы и распространяющиеся вдоль оси колонны, соответственно. Детектор In-Chamber BSE собирает BSE-электроны, отраженные на большие углы. При совместном использовании эти три детектора отраженных электронов позволяют получать контрастные изображения в ситуациях с разными закономерностями формирования контраста. Также возможно детектирование сигнала при работе с пучком электронов сверх-малой энергии, вплоть до 200 эВ.
  • Три модификации детектора вторичных электронов TriSE™ разработаны, чтобы оптимально собирать сигнал вторичных электронов при любых рабочих расстояниях и при любых режимах работы электронной колонны. Детектор In-Beam SE внутри колонны позволяет детектировать SE-электроны при работе с очень малыми рабочими расстояниями. SE-детектор для режима торможения пучка (BMD) демонстрирует превосходное разрешение в режиме BDM. In-Chamber SE детектор обеспечивает превосходный топографический контраст.
  • Режим торможения пучка электронов (BDM) для сохранения превосходного пространственного разрешения при очень низких энергиях первичного пучка (вплоть до 50 эВ).
  • Технология In-Flight Beam Tracing™ для определения и оптимизации параметров пучка электронов в реальном времени (идет непрерывный мониторинг таких параметров, как диаметр пучка и ток пучка). Расширенный режим низкого вакуума с давлением в камере до 500 Па для изучения непроводящих образцов без какого-либо напыления.

MAIA 3 (модель 2016 года) —идеальный выбор для исследований непроводящих и деградирующих под электронным пучком образцов (все типы биологических образцов в их естественном состоянии). Этот сканирующий электронный микроскоп удовлетворяет возросшим требованиям во всех сферах науки и технологий, обеспечивая исследователей высококачественными изображениями при низких энергиях пучка электронов и эффективно применяется в материаловедении, полупроводниках, оптоэлектронике, гелиотехнике, литографии и науках о живом

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией об электронных микроскопах MAIA 3 (модель 2016 года), обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании Tescan по ссылке http://www.tescan.ru/products.


Специализированные модели (Tescan)


FIBLYS — уникальный комплекс для мульти наноисследований, разработанный ведущими европейскими институтами совместно с производителями аналитического оборудования. Проект FIBLYS был представлен в сентябре 2010 г. и включает в себя современные методики создания наноструктур, исследования и модификации поверхности, такие как: SEM - сканирующий электронный микроскоп, FIB - сфокусированный ионный пучок, AFM - атомно-силовой микроскоп, TOF - времяпролетный масс-спектрометр, EDS - энергодисперсионный спектрометр, EBSD - детектор дифракции отраженных электронов. FIBLYS оснащен высокоточным столиком образцов, манипуляторами, системой локальной подачи газа и большим набором детекторов, что позволяет проводить уникальные исследования, определять состав и структуру материалов, создавать и тестировать объекты на основе наноструктур и модифицировать поверхность.

 

TESCAN EasyProbe позволяет применять его как в образовательных учреждениях, так и в производственных лабораториях. Электронные микроскопы с камерами для сверх больших образцов или с уникальной геометрией детекторов разрабатываются для решения нестандартных задач. Нестандартные фланцы или стенки камер могут быть разработаны и изготовлены при необходимости установки специализированных детекторов других производителей.

 

Мультимодальный голографический микроскоп Q-PHASE. C этим инструментом TESCAN вступает в новую для него область передовой оптической микроскопии. Q-PHASE является уникальным инструментом для количественного фазового анализа (QPI), основанным на запатентованной технологии голографической микроскопии с контролем когерентности излучения. Этот метод использует обычные некогерентные источники излучения (галогеновые лампы, светодиоды), обеспечивая QPI самого высокого качества без каких-либо ограничений. К тому же Q-Phase - это единственный на сегодня микроскоп, который реализует метод QPI в мутных (оптически непрозрачных) средах. Микроскоп Q-PHASE создан специально для наблюдения живых клеток вне организма. Метод основан на надежной платформе инвертированного просвечивающего микроскопа. Вся система помещена в инкубатор для контроля температуры и других параметров среды. Полностью моторизованная система удовлетворяет даже самым высоким требованиям в области автоматизации эксперимента.

 

VEGA EasyProbe – сканирующий электронный микроскоп с полностью интегрированной системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа (ЭДС). Панель инструментов микроанализа One-Touch EDX, встроенная в интерфейс управления микроскопа, позволяет одним касанием выводить результаты количественного анализа элементного состава непосредственно на «живое» изображение электронного микроскопа. Компактное и легко транспортируемое исполнение электронного микроскопа

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о специальных разработках фирмы Tescan, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании по ссылке http://www.tescan.ru/products.


Компания Tescan предлагает ряд инновационных инженерных решений по повышению производительности работы и расширению возможностей своих электронных микроскопов. Решение уникальных задач на микроскопах Tescan стало возможно за счет реализации интегрированного подхода по оснащению предлагаемых моделей.

Во-первых, расширение возможностей электронных микроскопов при решении исследовательских задач достигается оснащением их разнообразными пользовательскими аксессуарами, высокоточными и чувствительными детекторами для получения дополнительной информации об образцах, что в конечном определяет высокое качество работы всех приборов.

Во-вторых, Tescan предлагает ряд оригинальных программных решений. В стандартную комплектацию любого сканирующего электронного микроскопа входит многокомпонентное управляющее программное обеспечение. Кроме этого, фирма предлагает автономное ПО обработки изображений ATLAS. Все программное обеспечение имеет модульную структуру со множеством дополнений для различных целей.



Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх