Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA была спроектирована для широкого круга применений и потребностей в современных областях науки и промышленности. Все наработки за десятилетнюю историю непрерывного развития микроскопов серии Vega были воплощены в третьем поколении.
Основные особенности поколения VEGA 3:
- Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
- Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
- Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
- Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.
- Обновлённое программное обеспечение с высоким уровнем автоматизации.
- Программное обеспечение со встроенным языком программирования (Python) для расширения возможностей пользователей.
Аналитический потенциал:
- Чувствительные детекторы электронов с высококлассными YAG кристаллами.
- Широкий выбор детекторов и аксессуаров.
- Интерфейсные порты рабочей камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX и EBSD.
- Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают достижение рабочего вакуума за несколько минут.
- Исследования непроводящих образцов в их естественном состоянии при переменном уровне вакуума в камере образцов.
- Несколько типов подвески камеры образцов и колонны на выбор для эффективного снижения влияния внешних вибраций.
- 3D-измерения реконструированной поверхности с использованием интегрированного ПО.
На данный момент серия VEGA 3 представлена 8 модификациями отличных микроскопов различающихся по размеру камеры образцов, диапазоном перемещения столика, возможностью работы в переменном вакууме и антивибрационной подвеской для защиты от внешних вибраций.
С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах VEGA 3, Вы можете ознакомиться на сайте компании Tescan www.tescan.ru/products.