8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ОБРАЗОВАНИЯ, НАУЧНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Электронные микроскопы для образования и науки

Электронные микроскопы для образования и науки

Информируем клиентов

Из-за введения чрезвычайного положения на территории Республики Казахстан и объявлении карантина в ряде городов, наша компания переходит на 

дистанционный режим работы.
Офис закрыт для посещения клиентами, но мы
работаем и наши менеджеры готовы общаться:
по телефону +77024490169 Whatsapp
или tech_info@nanolab.kz по email
Спасибо за понимание ситуации и готовность работать в удалённом режиме.
Расположены сделать предложение, от которого трудно отказаться!


Использование современной компонентной базы и передовых технологических решений позволяет компании Tescan быстро реагировать на потребности рынка и создавать модели микроскопов с всевозможными характеристиками для решения широкого круга уникальных задач. 

Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA 3 (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA была спроектирована для широкого круга применений и потребностей в современных областях науки и промышленности. Все наработки за десятилетнюю историю непрерывного развития микроскопов серии Vega были воплощены в третьем поколении.

Основные особенности поколения VEGA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
  • Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
  • Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
  • Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.

Более подробную информацию о серии сканирующих электронных микроскопах VEGA 3, Вы можете у наших менеджеров через страницу Контакты.

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA 3 FEG SEM (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA - это третье поколение микроскопов высокого разрешения, оснащённых катодом Шоттки высокой яркости в качестве источника электронов (катодом с полевой эмиссией).

Особенности микроскопов третьего поколения MIRA 3:

  • Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления качественных изображений и обработки сигналов.
  • Компенсация статических и динамических аберраций при ультравысоких скоростях сканирования.
  • Технология Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина, Широкое поле обзора и т.д.).
  • Программное обеспечение для управления, настройки и диагностики микроскопа, автоматизированные процедуры настройки.
  • Интегрированный программный модуль для нано-литографии нового поколения.


С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах MIRA, Вы можете ознакомиться у наших менеджеров.

Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG (Tescan)


Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG - это удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа высокого разрешения и ионной колонны с различными дополнениями, что превращает LYRA 3 FEG в модель для самых взыскательных пользователей.


Описание системы:

  • Полностью интегрированное в ПО микроскопа управление электронной колонной (SEM), ионной колонной (FIB) и системой инжектирования газов (GIS).
  • Новое поколение модуля для нано литографии DrawBeam с возможностью программирования собственных процедур автоматизации.
  • Максимально большая камера образцов с геометрией портов, оптимизированной для задач микроанализа.
  • Колонна SEM на основе MIRA 3 Wide Field OpticsTM c катодом с полевой эмиссией (катодом Шоттки) и с уникальной трехлинзовой электронной оптикой Wide Field OpticsTM для оптимизации формы и размера пучка.


С более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопах LYRA 3 FEG, Вы можете ознакомиться у наших менеджеров.

Система для автоматического минералогического анализа TIMA (Tescan)


Система для автоматического минералогического анализа TIMA (the TESCAN Integrated Mineral Analyzer) разработанная компанией позволяет выполнять автоматический минералогический анализ или автоматический анализ раскрытий и ассоциаций минералов, оценивать эффективность процессов дробления и обогащения, надёжно диагностировать в образцах зерна редких минералов с драгоценными или с редкоземельными металлами, строить распределения зёрен или частиц по морфологическим признакам.

Уникальность технологии, предложенной TESCAN, заключается в высокой степени интеграции между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX), благодаря чему сбор данных, объединяющих в себе электронные изображения и характеристические спектры с каждого пикселя изображения, происходит с беспрецедентно высокой скоростью и в полностью автоматическом режиме. В большой камере образцов находится управляемый с компьютера столик с прецизионным перемещением, в который монтируется специальный держатель для минералогических образцов (до 7 образцов диаметром 30 мм). В центре держателя размещены стандарты для автоматической калибровки энергодисперсионных спектрометров (EDX) и детектора отражённых электронов (BSE). Стандарты включают в себя платиновую ячейку Фарадея (для автоматической настройки уровня BSE-сигнала), Mn, Cu, С, Au, кварц (набор стандартов может быть изменён по запросу пользователя).

С более подробной информацией о системе для автоматического минералогического анализа TIMA, Вы можете ознакомиться у наших менеджеров.

Серия сканирующих электронных микроскопов FERA 3 (Tescan)


Новое поколение двухлучевых сканирующих электронных микроскопов с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки и дополнительной ионной колонной разработано с привлечением самых современных технологий, сохраняя наилучшее соотношение цена/возможности - новая улучшенная высокопроизводительная электроника для более быстрого накопления изображений, ультра скоростная сканирующая система с компенсацией статических и динамических аберраций изображения, встроенный язык программирования для создания собственных пользовательских процедур. 

Особенности микроскопов FERA 3:
  • Катод Шоттки высокой яркости в качестве источников электронов гарантирует накопление изображений с прекрасным пространственным разрешением и с одновременной высокой плотностью тока пучка электронов, благодаря чему достигается высокое отношение «сигнал/шум».
  • Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами (технология Wide Field Optics™) позволяет использовать оптическую систему в различных режимах: Разрешение, Глубина фокуса, Поле, Широкое поле, Качающийся зонд.
  • Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью электромагнита – запатентованная промежуточная линза (IML) работает в качестве устройства смены апертуры. Конструкция колонны микроскопа без единого механически центрируемого элемента позволяет автоматизировать все процедуры настройки, включая юстировку и центрирование электронной оптики.
  • Запатентованная технология In-Flight Beam TracingTM, интегрированная с выверенным программным модулем Electron Optical Design, служит для вычисления с высокой точностью параметров пучка в реальном времени и оптимизации этих параметров «на лету», что позволяет, в частности, напрямую задавать желаемый диаметр зонда либо ток зонда в непрерывном диапазоне.
  • Опциональные SE- и BSE-детекторы, встроенные в полюсный наконечник объективной линзы, расширяют возможности микроскопа по созданию изображений высокого разрешения.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии электронных микроскопов FERA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты .

Сканирующий электронный микроскоп MAIA 3 (Tescan)


Сканирующий электронный микроскоп MAIA3 (модель 2016 года) обладает ультравысоким разрешением с прекрасными возможностями для получения изображений во всем диапазоне ускоряющих напряжений пучка электронов. Многозадачный набор детекторов совместно с высоким пространственным разрешением позволяют наблюдать мельчайшие детали поверхности образца. Это особенно важно для комплексного описания наноматериалов, для наблюдения образцов, чувствительных к повреждающему воздействию пучка электронов (а подобные образцы распространены в полупроводниковой индустрии), для комфортного изучения непроводящих образцов, включая ненапыленные био-материалы.

MAIA 3 (модель 2016 года) —идеальный выбор для исследований непроводящих и деградирующих под электронным пучком образцов (все типы биологических образцов в их естественном состоянии). Этот сканирующий электронный микроскоп удовлетворяет возросшим требованиям во всех сферах науки и технологий, обеспечивая исследователей высококачественными изображениями при низких энергиях пучка электронов и эффективно применяется в материаловедении, полупроводниках, оптоэлектронике, гелиотехнике, литографии и науках о живом

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией об электронных микроскопах MAIA 3 (модель 2016 года), обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты .


Специализированные модели (Tescan)


FIBLYS — уникальный комплекс для мульти наноисследований, разработанный ведущими европейскими институтами совместно с производителями аналитического оборудования. Проект FIBLYS был представлен в сентябре 2010 г. и включает в себя современные методики создания наноструктур, исследования и модификации поверхности, такие как: SEM - сканирующий электронный микроскоп, FIB - сфокусированный ионный пучок, AFM - атомно-силовой микроскоп, TOF - времяпролетный масс-спектрометр, EDS - энергодисперсионный спектрометр, EBSD - детектор дифракции отраженных электронов. 

TESCAN EasyProbe позволяет применять его как в образовательных учреждениях, так и в производственных лабораториях. Электронные микроскопы с камерами для сверх больших образцов или с уникальной геометрией детекторов разрабатываются для решения нестандартных задач. Нестандартные фланцы или стенки камер могут быть разработаны и изготовлены при необходимости установки специализированных детекторов других производителей.

Мультимодальный голографический микроскоп Q-PHASE. C этим инструментом TESCAN вступает в новую для него область передовой оптической микроскопии. Q-PHASE является уникальным инструментом для количественного фазового анализа (QPI), основанным на запатентованной технологии голографической микроскопии с контролем когерентности излучения. Этот метод использует обычные некогерентные источники излучения (галогеновые лампы, светодиоды), обеспечивая QPI самого высокого качества без каких-либо ограничений. К тому же Q-Phase - это единственный на сегодня микроскоп, который реализует метод QPI в мутных (оптически непрозрачных) средах. Микроскоп Q-PHASE создан специально для наблюдения живых клеток вне организма. Метод основан на надежной платформе инвертированного просвечивающего микроскопа. Вся система помещена в инкубатор для контроля температуры и других параметров среды. Полностью моторизованная система удовлетворяет даже самым высоким требованиям в области автоматизации эксперимента.

VEGA EasyProbe – сканирующий электронный микроскоп с полностью интегрированной системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа (ЭДС). Панель инструментов микроанализа One-Touch EDX, встроенная в интерфейс управления микроскопа, позволяет одним касанием выводить результаты количественного анализа элементного состава непосредственно на «живое» изображение электронного микроскопа. Компактное и легко транспортируемое исполнение электронного микроскопа

Компания Tescan предлагает ряд инновационных инженерных решений по повышению производительности работы и расширению возможностей своих электронных микроскопов. Решение уникальных задач на микроскопах Tescan стало возможно за счет реализации интегрированного подхода по оснащению предлагаемых моделей.

Остались вопросы? Дополнительную информацию о представленных выше приборах и оборудовании аналогичного назначения других производителей, Вы можете узнать, задав свои вопросы на странице Контакты нашего сайта.


Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх