8 727 250 29 69

logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ И ПРИБОРЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИСЗМ Раман Нано ИК системы

СЗМ Раман Нано ИК системы

ИНТЕГРА Спектра II (NT-MDT Spectrum Instruments)

НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра II объединяет в себе возможности СЗМ с конфокальной микроскопией/спектроскопией комбинационного рассеяния (КР) и представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп.



Многофункциональная автоматизированная система ИНТЕГРА СПЕКТРА II для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований содержит:

  • Автоматизированный АСМ высокого разрешения.

  • Конструктивные решения, оптимизированные для TERS-экспериментов - оптический доступ сверху, снизу и сбоку.

  • Модульную оптическую систему, позволяющую реализовать любую конфигурацию возбуждения и сбора оптического отклика.

  • Автоматизированную настройку системы лазер-зонд-фотодиод.

  • Простую смену длины волны источника излучения оптической системы АСМ.

  • Легкую и точную настройка объективов.

  • Интеграцию с АСМ-ИК & СБОМ (опционально).

НТ-МДТ Спектрум Инструментс с 1998 г. успешно интегрирует АСМ с методами оптической микроскопии и спектроскопии. Поддерживаются более 30 базовых и продвинутых АСМ методик, включая HybriD ModeTM, предоставляя исследователям обширную информацию о физических свойствах образца. Интеграция АСМ с конфокальной рамановской/флуоресцентной микроскопией обеспечивает широчайший набор дополнительной информации об образце. Одновременное получение АСМ и рамановских изображений точно той же области образца предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца.

ИНТЕГРА СПЕКТРА II благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering - TERS) позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. Специально изготовленные АСМ зонды (наноантенны) могут быть использованы в TERS для локализации и усиления излучения в нанометровой области около острия зонда. Такие наноантенны действуют как “наноисточники” излучения, давая возможность получения оптического изображения с разрешением на порядки лучше дифракционного предела (до ~ 10 нм).

Другим подходом к получению оптических и спектроскопических изображений в ИНТЕГРА СПЕКТРА II является использование сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) с использованием апертурных зондов, обеспечивающая пространственное разрешение ~ 100 нм.

Остались вопросы? Получите профессиональную консультацию наших специалистов по электронной почте, телефону, факсуили прямо в офисе!

Каталог ИНТЕГРА (3,87 Мб)

Для того чтобы скачать файл заполните
пожалуйста несколько полей

Фамилия:
Имя:
E-mail:
Телефон:

Информацию о приборах и оборудовании аналогичного назначения других производителей, Вы можете узнать, задав свои вопросы на странице Контакты нашего сайта.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх