8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыУСТРОЙСТВА И ОБОРУДОВАНИЕ КОМПАНИИ TESCANИнструменты и аксессуары для нанотехнологий

Инструменты и аксессуары для нанотехнологий

Компания Tescan предлагает ряд решений для повышения производительности работы и расширения возможностей электронных микроскопов. Решение уникальных задач на микроскопах Tescan стало возможно за счет реализации интегрированного подхода по оснащению предлагаемых моделей.

Во-первых, расширение возможностей электронных микроскопов при решении исследовательских задач достигается оснащением их разнообразными пользовательскими аксессуарами, высокоточными и чувствительными детекторами для получения дополнительной информации об образцах, что в конечном определяет высокое качество работы всех приборов.

Во-вторых, Tescan предлагает ряд оригинальных программных решений. В стандартную комплектацию любого сканирующего электронного микроскопа входит многокомпонентное управляющее программное обеспечение. Кроме этого, фирма предлагает автономное ПО обработки изображений ATLAS. Все программное обеспечение имеет модульную структуру со множеством дополнений для различных целей.

Аксессуары (TESCAN)


Манипуляторы предназначены для механического воздействия на образец непосредственно в камере микроскопа. С помощью манипуляторов можно перемещать отдельные части материала образца, осуществлять механическое воздействие или создавать электрический контакт в нужном месте образца. Существуют различные модели манипуляторов, от миниатюрных, которые можно разместить на столике рядом с образцом, до манипуляторов с большим числом степеней свободы, устанавливаемых сверху камеры образцов.

Шлюз. Все модели микроскопов Tescan позволяют провести замену образцов за 3-4 минуты, напустив воздух в камеру. Но в некоторых случаях, может потребоваться более быстрая замена образца, например, если требуется минимизировать время нахождения образца на воздухе. Для решения таких задач был разработан шлюз, который можно установить на большинство моделей электронных микроскопов Tescan. При смене образца с помощью шлюза откачивается не весь объем вакуумной системы, а только небольшая шлюзовая камера, которая после откачки соединяется с камерой микроскопа. Таким образом, в камере микроскопа всегда поддерживается высокий вакуум, а замена образцов занимает около 30 секунд.

Контрольная панель разработана специально для использования с микроскопами Tescan. Ручки управления на контрольной панели предназначены для простого и интуитивно понятного управления микроскопом. Контрольная панель позволяет изменять увеличение, положение столика, фокус, ток пучка, скорость развертки и другие параметры. Три верхних ручки могут изменять свое назначение в зависимости от надписей на сенсорном экране. На сенсорный экран также выведены некоторые основные параметры микроскопа и кнопки быстрого доступа для: автоматической настройки фокуса, автоматической настройки яркости/контраста и сохранения изображения.

Этими аксессуарами не ограничивается большой перечень и других дополнительных устройств Tescan. Если желаете ознакомиться с более подробной информацией об аксессуарах фирмы, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Детекторы (Tescan)


Детектор SE - cтандартный детектор вторичных электронов (SE - secondary electrons) позволяет получать изображения с топографическим контрастом. Таким детектором, классической конструкции типа Эверхардта-Торнлей, по умолчанию оснащаются все электронные микроскопы Tescan. На микроскопах серии Mira дополнительно может быть установлен детектор вторичных электронов, встроенный в объективную линзу - InBeam, который позволяет получать изображения высокого качества как при низких ускоряющих напряжениях, так и при коротких фокусных расстояниях

Детекторы BSE (BSE - backscattered electrons) отраженных электронов предназначены для получения изображения с информацией о вариациях состава на основе контраста по среднему атомному номеру. Большинство моделей электронных микроскопов Tescan поставляется вместе с высокочувствительным детектором отраженных электронов на базе сцинтилляторного YAG кристалла. Такие детекторы обладают низким уровнем шума, не чувствительны к вторичным электронам и имеют высокое быстродействие. Для решения специализированных задач имеется возможность установки много сегментных детекторов отраженных электронов.

Детектор LVSTD (Low Vacuum Secondary Tescan Detector) – детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли, специально разработанный для режима низкого вакуума. Он наиболее подходит для изучения топографии поверхности непроводящих образцов. Детектор LVSTD оснащен собственным турбомолекулярным насосом для откачки объема детектора, что позволяет изучать топографию образцов без токопроводящего покрытия образцы в условиях низкого вакуума. Детектор также подходит для изучения поверхности пористых и влагосодержащих образцов.

Детектор катодолюминесценции предназначен для поиска и определения параметров включений, дефектов и границ зерен в материалах различной природы. Эффективный световод в сочетании с зеркальной системой позволяют за короткое время получать CL изображения высокого качества. Детектор интегрирован в микроскоп и управляется через программную оболочку. Для стандартного спектрального диапазона возможна установка как отдельного CL детектора, так и CL детектора со сменным наконечником, совмещенного с детектором BSE.

Детектор прошедших электронов специальное устройство, позволяющее получать изображения в проходящих электронах – TE детектор для исследования методом сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM- scanning transmission electron microscopy). Для исследования биологических объектов просвечивающая электронная микроскопия используется гораздо чаще чем сканирующая. Детектор размещается на стандартном столике образцов микроскопа и позволяет получать изображения такие же, как на просвечивающем электронном микроскопе, но со всеми преимуществами сканирующего электронного микроскопа.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о всех моделях детекторов для сканирующих электронных микроскопов, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании Tescan по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Программное обеспечение (TESCAN)


Целью компании TESCAN с момента ее возникновения является обеспечение пользователей такими программными решениями, которые будут интуитивно понятны и удобны как для профессионалов, так и для операторов с минимальным опытом. Нынешнее третье поколение сканирующих электронных микроскопов оснащено новым программным обеспечением, которое является еще более дружественным, прозрачным и интуитивно понятным.

Основные особенности ПО:

  • Многопользовательская среда с несколькими уровнями доступа;
  • Поддержка 6-ти языков, включая русский;
  • Встроенная система систематизации изображений с возможностью поиска изображений, собранных при определенных условиях;
  • Поддержка стандартных форматов изображений: TIFF, BMP, JPEG, JPEG2000, PNG, GIF, PGM, PPM;
  • Быстрый генератор отчетов с экспортом в различные форматы, в том числе MS Word, Open Office, PDF и т.д. ;
  • Подробный on-line help;
  • Исследовательская работа на профессиональном уровне – получение изображения с глубиной градаций серого 8 bit или 16 bit;
  • Передовые инструменты для просмотра и обработки изображений, проведения измерений на изображениях, калибровки размера пикселя у импортированных изображений, калибровки маркера для серии изображений.
  • Программные модули, оптимизированные для различных целей:
  • Программное обеспечение Атлас представляет собой off line-приложение для систематизации, обработки и архивирования как изображений, полученных микроскопом TESCAN, так и снимков с другого оборудования. Изображения со сторонних приборов (таких как видеоустройства, оптические микроскопы с цифровыми камерами, эндоскопы, сканеры и т.д.) калибруются в Атласе с тем, чтобы стали доступны базовые метрологические измерения на этих изображениях;
  • Разработан большой набор дополнительных модулей, расширяющих возможности программы управления микроскопом TESCAN и возможности ПО «Атлас»;
  • Модуль «Анализ частиц» в двух версиях — Basic и Advanced;
  • Модули EasyEDX предназначены для гибкой интеграции СЭМ с детекторами стороннего производителя. Модули разрабатывались в рамках создания модели Vega 3 EasyProbe, однако модули EasyEDX работают с любым детектором Quantax производства Bruker;
  • Генератор отчетов является стандартной функцией, содержащейся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Этот модуль позволяет пользователю создавать отчеты в виде, удобном для распечатывания. Сохраненные СЭМ-изображения могут быть каталогизированы и размещены в документе со всей необходимой описательной информацией;
  • Менеджер изображений является стандартной функцией, содержащейся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Это программное средство позволяет пользователю просматривать или редактировать различные изображения. Быстрый обзор полученных изображений не требует установки другого графического редактора или браузера. Изображения обрабатываются с учетом всей сопутствующей информации и параметров, содержащихся в заголовке;
  • Модуль для автоматического накопления серии изображений с большой площади и создания из них одного панорамного изображения;
  • Панель «Детекторы и Микширование сигналов» — это стандартная панель, содержащаяся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Прежде всего, эта панель служит для выбора активного детектора для накопления данных (если этот детектор инсталлирован и подключен к СЭМ), а также для настройки уровней яркости/контраста. Можно одновременно в реальном времени собирать изображения с помощью 1, 2 или 4 детекторов. Доступно сложение или вычитание сигналов с разных детекторов в процентном соотношении, выбираемом пользователем;
  • Третье поколение сканирующих электронных микроскопов TESCAN разработано, в том числе, для обеспечения тех требований, что выдвигают задачи электронно- и ионно-лучевой литографии;
  • FIB томография (FIB – focused ion beam - фокусированный ионный пучок) становится все более распространенным инструментом для изучения материалов на микро- и нано-уровне. В отличие единичного поперечного сечения, эта методика дает лучшее понимание распределения в объеме образца тех или иных особенностей, понимание трехмерной структуры и взаимосвязей между трехмерными объектами. TESCAN FIB-SEM могут быть оснащены опциональным программным модулем «3D Томография» для автоматизированного сбора трехмерных данных и реконструкции объемной структуры;
  • AutoSlicer это программный модуль для двух-лучевых систем TESCAN FIB-SEM. Он является простым в использовании инструментом, разработанным для автоматизации таких рутинных процедур работы с ионной колонной, как создание поперечных сечений или подготовка ламелей для последующего исследования в просвечивающем электронном микроскопе;
  • Модуль «3D Сканирование» позволяет накапливать анаглифные изображения с помощью растрового электронного микроскопа TESCAN;
  • Модуль для так называемой «корреляционной микроскопии», т.е. для обеспечения удобной совместной работы на сканирующем электронном микроскопе и на оптическом микроскопе.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о программных продуктах фирмы Tescan, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх