8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыФИРМА TESCANИнструменты и аксессуары для нанотехнологий

Инструменты и аксессуары для нанотехнологий

Компания Tescan предлагает ряд решений для повышения производительности работы и расширения возможностей электронных микроскопов. Решение уникальных задач на микроскопах Tescan стало возможно за счет реализации интегрированного подхода по оснащению предлагаемых моделей.


Аксессуары (TESCAN)


Манипуляторы предназначены для механического воздействия на образец непосредственно в камере микроскопа. Существуют различные модели манипуляторов, от миниатюрных, которые можно разместить на столике рядом с образцом, до манипуляторов с большим числом степеней свободы, устанавливаемых сверху камеры образцов.

Шлюз. Все модели микроскопов Tescan позволяют провести замену образцов за 3-4 минуты, напустив воздух в камеру. Для еще более быстрой замены образца фирмой был разработан шлюз, который можно установить на большинство моделей электронных микроскопов Tescan. При смене образца с помощью шлюза откачивается не весь объем вакуумной системы, а только небольшая шлюзовая камера, которая после откачки соединяется с камерой микроскопа. Таким образом, в камере микроскопа всегда поддерживается высокий вакуум, а замена образцов занимает около 30 секунд.

Контрольная панель разработана для использования с микроскопами Tescan, ручки управления панели предназначены для простого и интуитивно понятного управления микроскопом и позволяют изменять увеличение, положение столика, фокус, ток пучка, скорость развертки и другие параметры. Три верхних ручки могут изменять свое назначение в зависимости от надписей на сенсорном экране. На сенсорный экран также выведены некоторые основные параметры микроскопа и кнопки быстрого доступа для: автоматической настройки фокуса, автоматической настройки яркости/контраста и сохранения изображения.

Этими аксессуарами не ограничивается большой перечень других дополнительных устройств Tescan. Если желаете ознакомиться с более подробной информацией об аксессуарах фирмы, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Детекторы (Tescan)


Детектор SE - cтандартный детектор вторичных электронов (SE - secondary electrons) позволяет получать изображения с топографическим контрастом. Таким детектором, классической конструкции типа Эверхардта-Торнлей, по умолчанию оснащаются все электронные микроскопы Tescan. На микроскопах серии Mira дополнительно может быть установлен детектор вторичных электронов, встроенный в объективную линзу - InBeam, который позволяет получать изображения высокого качества как при низких ускоряющих напряжениях, так и при коротких фокусных расстояниях

Детекторы BSE (BSE - backscattered electrons) отраженных электронов предназначены для получения изображения с информацией о вариациях состава на основе контраста по среднему атомному номеру. Большинство моделей электронных микроскопов Tescan поставляется вместе с высокочувствительным детектором отраженных электронов на базе сцинтилляторного YAG кристалла. Такие детекторы обладают низким уровнем шума, не чувствительны к вторичным электронам и имеют высокое быстродействие. Для решения специализированных задач имеется возможность установки много сегментных детекторов отраженных электронов.

Детектор LVSTD (Low Vacuum Secondary Tescan Detector) – детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли, специально разработанный для режима низкого вакуума. Он наиболее подходит для изучения топографии поверхности непроводящих образцов. Детектор LVSTD оснащен собственным турбомолекулярным насосом для откачки объема детектора, что позволяет изучать топографию образцов без токопроводящего покрытия образцы в условиях низкого вакуума. Детектор также подходит для изучения поверхности пористых и влагосодержащих образцов.

Детектор катодолюминесценции предназначен для поиска и определения параметров включений, дефектов и границ зерен в материалах различной природы. Эффективный световод в сочетании с зеркальной системой позволяют за короткое время получать CL изображения высокого качества. Детектор интегрирован в микроскоп и управляется через программную оболочку. Для стандартного спектрального диапазона возможна установка как отдельного CL детектора, так и CL детектора со сменным наконечником, совмещенного с детектором BSE.

Детектор прошедших электронов специальное устройство, позволяющее получать изображения в проходящих электронах – TE детектор для исследования методом сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM- scanning transmission electron microscopy). Для исследования биологических объектов просвечивающая электронная микроскопия используется гораздо чаще чем сканирующая. Детектор размещается на стандартном столике образцов микроскопа и позволяет получать изображения такие же, как на просвечивающем электронном микроскопе, но со всеми преимуществами сканирующего электронного микроскопа.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о всех моделях детекторов для сканирующих электронных микроскопов, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Программное обеспечение (TESCAN)


Целью компании TESCAN с момента ее возникновения является обеспечение пользователей такими программными решениями, которые будут интуитивно понятны и удобны как для профессионалов, так и для операторов с минимальным опытом. Нынешнее третье поколение сканирующих электронных микроскопов оснащено новым программным обеспечением, которое является еще более дружественным, прозрачным и интуитивно понятным.

Основные особенности ПО:

  • Многопользовательская среда с несколькими уровнями доступа;
  • Поддержка 6-ти языков, включая русский;
  • Встроенная система систематизации изображений с возможностью поиска изображений, собранных при определенных условиях;
  • Поддержка стандартных форматов изображений: TIFF, BMP, JPEG, JPEG2000, PNG, GIF, PGM, PPM;
  • Быстрый генератор отчетов с экспортом в различные форматы, в том числе MS Word, Open Office, PDF и т.д. ;
  • Подробный on-line help;
  • Исследовательская работа на профессиональном уровне – получение изображения с глубиной градаций серого 8 bit или 16 bit;
  • Программные модули, оптимизированные для различных целей - программное обеспечение Атлас представляет собой off line-приложение для систематизации, обработки и архивирования как изображений, полученных микроскопом TESCAN, так и снимков с другого оборудования; модуль «Анализ частиц» реализован в двух версиях — Basic и Advanced; модули EasyEDX предназначены для гибкой интеграции СЭМ с детекторами стороннего производителя (например,Bruker);
  • Генератор отчетов содержится во всех программных продуктах к сканирующим электронным микроскопам TESCAN;  
  • Менеджер изображений является стандартной функцией, к сканирующим электронным микроскопам TESCAN;
  • Панель «Детекторы и Микширование сигналов» — это стандартная панель, содержащаяся к сканирующим электронным микроскопам TESCAN;
  • TESCAN FIB-SEM могут быть оснащены опциональным программным модулем «3D Томография» для автоматизированного сбора трехмерных данных и реконструкции объемной структуры;
  • AutoSlicer программный модуль для двух-лучевых систем TESCAN FIB-SEM;
  • «3D Сканирование» позволяет накапливать анаглифные изображения с помощью растрового электронного микроскопа TESCAN;
  • Пакет «корреляционной микроскопии» обеспечивает удобную совместную работу на сканирующем электронном микроскопе и на оптическом микроскопе.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о программных продуктах фирмы Tescan, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх