8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ОборудованиеОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ОБРАЗОВАНИЯ, НАУЧНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Электронные микроскопы для образования и науки

Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов

Серия сканирующих электронных микроскопов FERA 3 (Tescan)


Новое поколение двухлучевых сканирующих электронных микроскопов с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки и дополнительной ионной колонной разработано с привлечением самых современных технологий, сохраняя наилучшее соотношение цена/возможности - новая улучшенная высокопроизводительная электроника для более быстрого накопления изображений, ультра скоростная сканирующая система с компенсацией статических и динамических аберраций изображения, встроенный язык программирования для создания собственных пользовательских процедур. 

Особенности микроскопов FERA 3:
  • Катод Шоттки высокой яркости в качестве источников электронов гарантирует накопление изображений с прекрасным пространственным разрешением и с одновременной высокой плотностью тока пучка электронов, благодаря чему достигается высокое отношение «сигнал/шум».
  • Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами (технология Wide Field Optics™) позволяет использовать оптическую систему в различных режимах: Разрешение, Глубина фокуса, Поле, Широкое поле, Качающийся зонд.
  • Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью электромагнита – запатентованная промежуточная линза (IML) работает в качестве устройства смены апертуры. Конструкция колонны микроскопа без единого механически центрируемого элемента позволяет автоматизировать все процедуры настройки, включая юстировку и центрирование электронной оптики.
  • Запатентованная технология In-Flight Beam TracingTM, интегрированная с выверенным программным модулем Electron Optical Design, служит для вычисления с высокой точностью параметров пучка в реальном времени и оптимизации этих параметров «на лету», что позволяет, в частности, напрямую задавать желаемый диаметр зонда либо ток зонда в непрерывном диапазоне.
  • Опциональные SE- и BSE-детекторы, встроенные в полюсный наконечник объективной линзы, расширяют возможности микроскопа по созданию изображений высокого разрешения.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии электронных микроскопов FERA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты .


Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх