Оборудование для образовательных программ, научных исследований и технологических процессов
Cканирующий просвечивающий электронный микроскоп 4D-STEM TENSOR (TESCAN)
Первый 4D-сканирующий просвечивающий электронный микроскоп 4D-STEM - прибор последнего поколения для обеспечения совершенно нового уровня производительности и пользовательского опыта. TENSOR разработан для удовлетворения потребностей всех, кто интересуется приложениями для определения мультимодальных наноструктурных характеристик (морфологических, химических и структурных), включая материаловедов, инженеров по исследованиям и разработкам полупроводников, анализу отказов (FA) и кристаллографов. Ранее использование электронных микроскопов при исследовании веществ на атомарном уровне имело существенные технические ограничения при изучения веществ имеющих только прочную атомарную решетку. Условно мягкие вещества могли быть разрушены электронными лучами и для их изучения использовали рентгеновские установки. Нестандартный подход, реализованный в TENSOR полностью меняет условия для изучения атомарной структуры материалов, а анализ с применением 4D-STEM методологии позволяет выявить слабые места в материале, которые могут привести к разрушению или деформации. Для анализа становится возможным использовать даже материалы сверхчувствительные к внешнему воздействию. Для каждого пикселя в наборе данных, TENSOR быстро и идеально синхронизирует дифракционную картину и спектр EDS. Вместе данные дифракции и спектроскопии позволяют создать полную картину взаимодействия электронного пучка с образцом, на основании которой может быть получен широкий спектр свойств материала.
Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией об электронных микроскопах 4D-STEM TENSOR TESCAN, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты .
