8 727 250 29 69

tech_info@nanolab.kz logos@nanolab.kz

Главная ПартнерыУСТРОЙСТВА И ОБОРУДОВАНИЕ КОМПАНИИ TESCANИнструменты и аксессуары для нанотехнологий

Партнерские программы для образования, науки и промышленности

Программное обеспечение (TESCAN)


Целью компании TESCAN с момента ее возникновения является обеспечение пользователей такими программными решениями, которые будут интуитивно понятны и удобны как для профессионалов, так и для операторов с минимальным опытом. Нынешнее третье поколение сканирующих электронных микроскопов оснащено новым программным обеспечением, которое является еще более дружественным, прозрачным и интуитивно понятным.

Основные особенности ПО:

  • Многопользовательская среда с несколькими уровнями доступа;
  • Поддержка 6-ти языков, включая русский;
  • Встроенная система систематизации изображений с возможностью поиска изображений, собранных при определенных условиях;
  • Поддержка стандартных форматов изображений: TIFF, BMP, JPEG, JPEG2000, PNG, GIF, PGM, PPM;
  • Быстрый генератор отчетов с экспортом в различные форматы, в том числе MS Word, Open Office, PDF и т.д. ;
  • Подробный on-line help;
  • Исследовательская работа на профессиональном уровне – получение изображения с глубиной градаций серого 8 bit или 16 bit;
  • Передовые инструменты для просмотра и обработки изображений, проведения измерений на изображениях, калибровки размера пикселя у импортированных изображений, калибровки маркера для серии изображений.
  • Программные модули, оптимизированные для различных целей:
  • Программное обеспечение Атлас представляет собой off line-приложение для систематизации, обработки и архивирования как изображений, полученных микроскопом TESCAN, так и снимков с другого оборудования. Изображения со сторонних приборов (таких как видеоустройства, оптические микроскопы с цифровыми камерами, эндоскопы, сканеры и т.д.) калибруются в Атласе с тем, чтобы стали доступны базовые метрологические измерения на этих изображениях;
  • Разработан большой набор дополнительных модулей, расширяющих возможности программы управления микроскопом TESCAN и возможности ПО «Атлас»;
  • Модуль «Анализ частиц» в двух версиях — Basic и Advanced;
  • Модули EasyEDX предназначены для гибкой интеграции СЭМ с детекторами стороннего производителя. Модули разрабатывались в рамках создания модели Vega 3 EasyProbe, однако модули EasyEDX работают с любым детектором Quantax производства Bruker;
  • Генератор отчетов является стандартной функцией, содержащейся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Этот модуль позволяет пользователю создавать отчеты в виде, удобном для распечатывания. Сохраненные СЭМ-изображения могут быть каталогизированы и размещены в документе со всей необходимой описательной информацией;
  • Менеджер изображений является стандартной функцией, содержащейся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Это программное средство позволяет пользователю просматривать или редактировать различные изображения. Быстрый обзор полученных изображений не требует установки другого графического редактора или браузера. Изображения обрабатываются с учетом всей сопутствующей информации и параметров, содержащихся в заголовке;
  • Модуль для автоматического накопления серии изображений с большой площади и создания из них одного панорамного изображения;
  • Панель «Детекторы и Микширование сигналов» — это стандартная панель, содержащаяся во всех ПО к сканирующим электронным микроскопам TESCAN. Прежде всего, эта панель служит для выбора активного детектора для накопления данных (если этот детектор инсталлирован и подключен к СЭМ), а также для настройки уровней яркости/контраста. Можно одновременно в реальном времени собирать изображения с помощью 1, 2 или 4 детекторов. Доступно сложение или вычитание сигналов с разных детекторов в процентном соотношении, выбираемом пользователем;
  • Третье поколение сканирующих электронных микроскопов TESCAN разработано, в том числе, для обеспечения тех требований, что выдвигают задачи электронно- и ионно-лучевой литографии;
  • FIB томография (FIB – focused ion beam - фокусированный ионный пучок) становится все более распространенным инструментом для изучения материалов на микро- и нано-уровне. В отличие единичного поперечного сечения, эта методика дает лучшее понимание распределения в объеме образца тех или иных особенностей, понимание трехмерной структуры и взаимосвязей между трехмерными объектами. TESCAN FIB-SEM могут быть оснащены опциональным программным модулем «3D Томография» для автоматизированного сбора трехмерных данных и реконструкции объемной структуры;
  • AutoSlicer это программный модуль для двух-лучевых систем TESCAN FIB-SEM. Он является простым в использовании инструментом, разработанным для автоматизации таких рутинных процедур работы с ионной колонной, как создание поперечных сечений или подготовка ламелей для последующего исследования в просвечивающем электронном микроскопе;
  • Модуль «3D Сканирование» позволяет накапливать анаглифные изображения с помощью растрового электронного микроскопа TESCAN;
  • Модуль для так называемой «корреляционной микроскопии», т.е. для обеспечения удобной совместной работы на сканирующем электронном микроскопе и на оптическом микроскопе.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о программных продуктах фирмы Tescan, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты или пройдите на сайт компании по ссылке http://www.tescan.ru/products.

Системные и комплексные

решения для образования, науки и промышленности

Аналитическое и лабораторное

оборудование для макро, микро и нано исследований

▲ Наверх