Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA была спроектирована для широкого круга применений и потребностей в современных областях науки и промышленности. Все наработки за десятилетнюю историю непрерывного развития микроскопов серии Vega были воплощены в третьем поколении.
Основные особенности поколения VEGA 3:
- Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
- Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
- Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
- Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.
Более подробную информацию о серии сканирующих электронных микроскопах VEGA 3, Вы можете у наших менеджеров через страницу Контакты.