Сканирующие электронные микроскопы позволяют получать изображения с большим увеличением и высоким разрешением. Это хорошо известный неразрушающий метод, который использует электронно-лучевой зонд для анализа поверхности образцов вплоть до наноразмерных размеров, что делает его подходящими инструментами для широкого спектра применений во многих областях науки и промышленности.
Фирма предлагает 7 моделей микроскопов:
VEGA аналитический SEM для определения характеристик материалов, исследований и контроля качества в микронном масштабе: с большой или маленькой камерой, расширенными функциями ручного или моторизованного манипулятора, работающий в высоком вакууме или с переменным изменением давления, позволяя проводить исследование проводящих и непроводящих материалов.
VEGA COMPACT производительный аналитический SEM начального уровня и является компактным вариантом исполнения микроскопа VEGA. Благодаря компактной и упрощенной конфигурации, в которой оптимизированы функции обработки изображений и анализа состава, микроскоп становится экономически эффективным решением для лабораторий, где приоритетом является понимание основных отличительных особенностей образцов.
MIRA аналитическая SEM-система четвертого поколения с высокой яркостью излучателя Шоттки с высоким разрешением при определении характеристик материалов, исследований и контроля качества в субмикронном масштабе, имея большую камеру и моторизованный манипулятор и функционирующая в высоком вакууме или с переменным изменением давления при исследования проводящих и непроводящих образцов с экстраординарным качеством отображения.
CLARA бесконтактный неиммерсионный аналитический SEM для определения характеристик материалов на наноуровне использующий технологию BrightBeam™, при которой объективная линза сочетает в себе магнитную и электростатическую линзы, что позволяет получать изображения с ультравысоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и при отсутствии вокруг образца магнитных полей, благодаря чему нет ограничений на свойства образца, включая магнитные.
MAGNA инструмент получения изображений с ультравысоким разрешением для наблюдений поверхностных свойств наноматериалов. Прибор оснащён электронной колонной Triglav™, комбинирующей в себе иммерсионную оптику и режим crossover-free, что даёт особенный выигрыш в пространственном разрешении именно при низких энергиях первичного электронного пучка. Режим crossover-free — режим, в котором нет уширения электронного пучка из-за эффекта расталкивания пространственного заряда, так как по ходу движения пучка нет кроссовера. Колонна Triglav™ включает в себя уникальную систему детектирования, встроенную внутрь электронной колонны, с селекцией обратно отражённых электронов (BSE) как по энергиям, так и по углам разлёта, что улучшает композиционный контраст и, в частности, позволяет получать изображения с композиционным контрастом от самых тонких приповерхностных слоёв образца.
TIMA специализированное решение для автоматизированного минералогического анализа, при исследованиях в области наук о Земле, а также при промышленной переработке полезных ископаемых. Модель четвертоого поколения, которая отличается повышенной простотой использования и обеспечивает сверхбыстрый анализ, позволяющий ускорить получение достоверных и воспроизводимых данных. Для увеличения производительности одновременно работают до четырех детекторов EDS, в то время как уникальный высокочувствительный алгоритм спектрального суммирования обеспечивает точную количественную оценку элементов с низким содержанием. Данные TIMA легко сопоставляются с другими методами определения характеристик минералов.
VOLUME SEM универсальный микроскоп для 2D и 3D определения характеристик биологических образцов. Методы объемной SEM позволяют получить представление о биологическом материале в высоком разрешении, что позволяет исследователям всесторонне понять внутреннюю структуру и функционирование биологических систем в 3D. Возможности 2D-визуализации практически любого SEM могут быть расширены до 3-го измерения с помощью специализированного программного или аппаратного обеспечения. Образцы, предварительно разделенные на срезы и собранные на подложке в виде массива последовательных срезов, могут быть автоматически отсканированы с помощью прибора для получения 3D-стопки изображений. Этот метод позволяет выполнять повторное сканирование и в любое время возвращаться к дополнительным областям, представляющим интерес.
Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о сканирующих электронных микроскопах TESCAN, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.
Готовы сделать предложение, от которого трудно отказаться!
