Сканирующие электронные микроскопы

Информируем клиентов

Из-за введения чрезвычайного положения на территории Республики Казахстан и объявлении карантина в ряде городов, наша компания переходит на
дистанционный режим работы.
Офис закрыт для посещения клиентами, но мы
работаем и наши менеджеры готовы общаться:
по телефону +77024490169 Whatsapp
или tech_info@nanolab.kz по email
Спасибо за понимание ситуации и готовность работать в удалённом режиме.
Расположены сделать предложение, от которого трудно отказаться!

Использование современной компонентной базы и передовых технологических решений позволяет компании Tescan быстро реагировать на потребности рынка и создавать модели микроскопов с всевозможными характеристиками для решения широкого круга уникальных задач.

Серия сканирующих электронных микроскопов VEGA 3 (Tescan)

На данный момент серия VEGA 3 представлена 4 моделями микроскопов, причем каждая в нескольких модификациях и различающихся по размеру камеры образцов, диапазоном перемещения столика, возможностью работы в переменном вакууме и антивибрационной подвеской для защиты от внешних вибраций.

Основные особенности нового поколения VEGA 3:

Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления изображений и обработки сигналов.
Высокоскоростная система сканирования нового поколения с компенсацией статических и динамических искажений.
Дополнительные режимы сканирования благодаря использованию оригинальной электронной оптики Wide Field Optics™.
Уникальная технология Tescan In-Flight Beam Tracing™ позволяет оптимизировать параметры электронного пучка в реальном времени.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопов VEGA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты .

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA 3 FEG SEM (Tescan)

Серия сканирующих электронных микроскопов MIRA - это третье поколение микроскопов высокого разрешения, оснащённых катодом Шоттки высокой яркости в качестве источника электронов (катодом с полевой эмиссией). Микроскопы для прецизионных исследований FEG SEM MIRA 3 доступен с тремя вариантами размеров камер и с двумя вариантами исполнения камер по отношению к вакуумному режиму.

Особенности микроскопов третьего поколения MIRA 3:

Новейшая высокоэффективная электроника для быстрого накопления качественных изображений и обработки сигналов.
Компенсация статических и динамических аберраций при ультравысоких скоростях сканирования.
Технология Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина, Широкое поле обзора и т.д.).
Интегрированный программный модуль для нано-литографии нового поколения.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопов MIRA, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG (Tescan)

Серия сканирующих электронных микроскопов LYRA 3 FEG - это удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа высокого разрешения и ионной колонны с различными дополнениями, что превращает LYRA 3 FEG в модель для самых взыскательных пользователей.

Описание системы:

Полностью интегрированное в ПО микроскопа управление электронной колонной (SEM), ионной колонной (FIB) и системой инжектирования газов (GIS).
Новое поколение модуля для нано литографии DrawBeam с возможностью программирования собственных процедур автоматизации.
Максимально большая камера образцов с геометрией портов, оптимизированной для задач микроанализа.

Варианты исполнения LYRA 3 FEG: модель с рабочим значением вакуума в камере образцов порядка 10^-3Па используется для исследований токопроводящих образцов и модель для работы при переменном вакууме в камере образцов (вплоть до 150 Па).

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии сканирующих электронных микроскопов LYRA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Система для автоматического минералогического анализа TIMA (Tescan)

Система для автоматического минералогического анализа TIMA (the TESCAN Integrated Mineral Analyzer) разработанная компанией позволяет выполнять автоматический минералогический анализ или автоматический анализ раскрытий и ассоциаций минералов, оценивать эффективность процессов дробления и обогащения, надёжно диагностировать в образцах зерна редких минералов с драгоценными или с редкоземельными металлами, строить распределения зёрен или частиц по морфологическим признакам.

Уникальность технологии, предложенной TESCAN, заключается в высокой степени интеграции между сканирующим электронным микроскопом (SEM) и энергодисперсионными спектрометрами (EDX).

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о системе для автоматического минералогического анализа TIMA, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Серия сканирующих электронных микроскопов FERA 3 (Tescan)

Новое поколение двухлучевых сканирующих электронных микроскопов с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки и дополнительной ионной колонной разработано с привлечением самых современных технологий, сохраняя наилучшее соотношение цена/возможности - новая улучшенная высокопроизводительная электроника для более быстрого накопления изображений, ультра скоростная сканирующая система с компенсацией статических и динамических аберраций изображения, встроенный язык программирования для создания собственных пользовательских процедур. Великолепное пространственное разрешение электронной колонны даже при высоких плотностях тока пучка электронов, сверхбыстрая скорость травления ионным пучком, а также мощное программное обеспечение превращают двухлучевой микроскоп FERA 3 в великолепный инструмент как для элементного и текстурного микроанализа, так и для многих других применений в различных областях науки и индустрии.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о серии электронных микроскопов FERA 3, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Сканирующий электронный микроскоп MAIA 3 (Tescan)

Сканирующий электронный микроскоп MAIA3 обладает ультравысоким разрешением с прекрасными возможностями для получения изображений во всем диапазоне ускоряющих напряжений пучка электронов. Многозадачный набор детекторов совместно с высоким пространственным разрешением позволяют наблюдать мельчайшие детали поверхности образца. Это особенно важно для комплексного описания наноматериалов, для наблюдения образцов, чувствительных к повреждающему воздействию пучка электронов (а подобные образцы распространены в полупроводниковой индустрии), для комфортного изучения непроводящих образцов, включая ненапыленные био-материалы.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией об электронных микроскопах MAIA 3 (модель 2016 года), обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.

Специализированные модели (Tescan)

FIBLYS — включает в себя современные методики создания наноструктур, исследования и модификации поверхности, такие как: SEM, FIB, AFM, TOF, EDS и EBSD. FIBLYS оснащен высокоточным столиком образцов, манипуляторами, системой локальной подачи газа и большим набором детекторов, что позволяет проводить уникальные исследования, определять состав и структуру материалов, создавать и тестировать объекты на основе наноструктур и модифицировать поверхность.

TESCAN EasyProbe позволяет применять его как в образовательных учреждениях, так и в производственных лабораториях. Электронные микроскопы с камерами для сверх больших образцов или с уникальной геометрией детекторов разрабатываются для решения нестандартных задач.

Мультимодальный голографический микроскоп Q-PHASE. C этим инструментом TESCAN вступает в новую для него область передовой оптической микроскопии. Q-PHASE является уникальным инструментом для количественного фазового анализа (QPI), основанным на запатентованной технологии голографической микроскопии с контролем когерентности излучения. Q-Phase - это единственный на сегодня микроскоп, который реализует метод QPI в мутных (оптически непрозрачных) средах. Микроскоп Q-PHASE создан специально для наблюдения живых клеток вне организма. Метод основан на надежной платформе инвертированного просвечивающего микроскопа.

VEGA EasyProbe – сканирующий электронный микроскоп с полностью интегрированной системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа (ЭДС). Панель инструментов микроанализа One-Touch EDX, встроенная в интерфейс управления микроскопа, позволяет одним касанием выводить результаты количественного анализа элементного состава непосредственно на «живое» изображение электронного микроскопа. Компактное и легко транспортируемое исполнение электронного микроскопа.

Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о специальных разработках фирмы Tescan, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.