Партнерские программы для образования, науки и промышленности

Для рентгеновских КТ (компьютерной томографии) сканеров или рентгеновских микроскопов наилучшее сочетание источника рентгеновского излучения, геометрии и детектора различаются в зависимости от желаемого разрешения, размера образца и скорости измерения. Rigaku предлагает три типа рентгеновских компьютерных томографов, каждый из них оптимизирован для разрешения, универсальности или скорости. Сканеры Rigaku CT (компьютерная томография) работают с различными пакетами программного обеспечения для визуализации и анализа, включая Dragonfly, VG STUDIO, digiM I2S и AVIZO.

Rigaku nano3DX - это компьютерный томограф с настоящим субмикронным разрешением. Параллельная геометрия луча в сочетании со сверхярким источником рентгеновского излучения с вращающимся анодом мощностью 1200 Вт повышает контрастность материалов с низкой плотностью, которые обычно трудно получить с помощью источников рентгеновского излучения высокой энергии. Рентгеновский анод из Cr (5,4 кэВ), Cu (8 кэВ) или Mo (17 кэВ)  генерируют низкоэнергетическое и псевдо-монохроматическое излучение для максимального увеличения контрастности рентгеновского КТ-изображения. Материал анода выбирается в зависимости от материала и размера образца, а благодаря наличию объектива с максимальным увеличением, nano3DX может достигать воксельного разрешения 325 нм и истинного субмикронного (700 нм) пространственного разрешения.

Rigaku CT Lab HX - это настольный микро-КТ-сканер. Регулируемые SOD (расстояние от образца до объекта) и SDD (расстояние от источника до детектора) делают этот настольный микро-КТ-сканер гибким. Он обеспечивает воксельное разрешение от 2,1 мкм в режиме высокого разрешения до 200 мм FOV (поле зрения) в режиме большого поля зрения. Прибор оснащен источником рентгеновского излучения высокой мощности 130 кВ - 39 Вт. Поле обзора, разрешение, настройки источника рентгеновского излучения и рентгеновские фильтры регулируются для оптимизации энергии рентгеновского излучения для различных материалов и размеров образца.

Rigaku CT Lab GX - это микро-КТ-сканер. Образец остается неподвижным, как на медицинском КТ-сканере, что упрощает установку образцов сложной формы или подключенных к устройствам на месте. Сочетание источника рентгеновского излучения высокой мощности (90 кВ - 8 Вт или 130 кВ - 39 Вт) и компактной геометрии портала обеспечивает сверхбыстрое сканирование. Компьютерная томография может быть выполнена за 3,9 секунды на максимальной скорости. Высокоскоростная функция открывает возможность проведения компьютерной томографии с временным разрешением (4D) и контроль качества компьютерной томографии.

С более подробными характеристиками компьютерных томографов, Вы можете по телефону 7-727-250-29-69, электронной почте или напрямую в нашем офисе.

Малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS) - метод, используемый для изучения наноразмерных структур атомов или молекул, а также их неоднородности путем измерения диффузного рассеяния в областях с неравной электронной плотностью. Эксперименты SAXS проводятся в самых разных областях - от исследований и разработок до контроля качества. Приборы данного типа представлены 3 моделями.

NANOPIX SAXS/WAXS - новый прибор для рассеивания рентгеновских лучей, предназначенный для анализа наноструктур, который может использоваться как для измерений рассеяния на малых углах (SAXS), так и для измерений широкоугольного рассеяния (WAXS), что позволяет оценивать многомасштабные структуры от субнанометрового до наноразмерного порядка (от 0,1 нм до 100 нм) и обеспечивает высочайший уровень разрешения под малым углом (Q_min до 0,02 нм^-1).

NANOPIX mini - первая в мире настольная система малоуглового рентгеновского рассеяния (SAXS), разработанная для автоматического анализа распределения наночастиц по размерам как для контроля качества (QC), так и для исследований и разработок (R&D). Размер наночастиц, распределение по размерам и форма частиц являются ключевыми элементами информации, полученной от SAXS. Образцы могут варьироваться от растворов, суспензий до твердых пластмасс, каучуков или полимеров.

NanoMAX - модернизированная 2D-система Kratky, в компактном исполнении и превосходном потоке для образцов по сравнению со стандартными системами с точечными отверстиями. Система NanoMAX может быть установлена на различных источниках рентгеновского излучения, включая открытый порт вращающегося анода, и имеет то преимущество, что к образцу подается больший поток при гораздо меньшей длине камеры по сравнению с системами SAXS с точечными отверстиями. Самое главное, что NanoMAX включает в себя функции и аппаратные средства для поддержки сбора данных SAXS как для изотропных, так и для анизотропных рассеивателей с очень широким диапазоном добротности 0,0043 Å⁻1 < q < 3,5 Å⁻1.

С более подробной информацией об аналогичном оборудовании, Вы можете по телефону 7-727-250-29-69, электронной почте или напрямую в нашем офисе. 

Самый маленький в мире портативный анализатор напряжений, специально разработанный для анализа в полевых условиях. Он позволяет характеризовать остаточное напряжение металлических деталей, начиная от крупных строительных проектов и заканчивая отдельными изделиями, например, мостами, морскими судами, самолетами, аэрокосмическим оборудованием, трубопроводами, тяжелой техникой и автомобилями. Измерительная головка имеет размеры 114 (Ш) x 248 (Г) x 111 (В) мм и весит 3 кг, кроме того, прибор позволяет измерять остаточное напряжение на внутренней поверхности отверстия диаметром 200 мм. Быстрый и простой сбор данных обеспечивается высокоскоростным двумерным (2-D) полупроводниковым детектором ускоряющим время сбора данных и точность даты. Остаточное напряжение измеряется в течение 60 секунд или меньше в большинстве случаев.

С более подробными характеристиками портативного анализатора напряжения SmartSite RS, Вы можете по телефону 7-727-250-29-69, электронной почте или напрямую в нашем офисе.

Лабораторная установка для микро-дифракционного анализа AutoMATE II позволяет проводить анализ остаточных напряжений методами постоянного (iso-inclination) или бокового (side-inclination) наклона. Точное обнаружение остаточных напряжений является важным элементом процесса управления качеством и помогает прогнозировать срок службы продукции. В установке для микро-дифракционного анализа AutoMATE II реализовано все лучшее из обоих подходов. Большие и тяжёлые детали  до 30 кг могут быть измерены с большой точностью, за счёт того, что рентгеновский источник и детектор измерения монтируются с высокой точностью по двум осям гониометра, что позволяет проводить автоматизированные измерения и поиск с точностью до 0,1 мкм  при объёмном (XYZ) исследовании.

Отличительные особенности - детектор рентгеновского излучения Ultra1000 с широким динамическим диапазоном с высокой чувствительностью и хорошим энергетическим разрешением; высокая точность за счёт гониометра при измерении остаточных напряжений; две оси гониометра, что позволяет использовать методы постоянного или бокового наклона, автоматически без переналадки образца позиции; измерение положение регулируется ПЗС-камерой, оснащённой микроскопом и имеет зум.

С более подробной информацией о лабораторной установке для микро-дифракционного анализа AutoMATE II, Вы можете по телефону 7-727-250-29-69, электронной почте или напрямую в нашем офисе.

Приборы метрологии поверхностного загрязнения – Rigaku является пионером в разработке и производстве измерительных приборов на основе рентгеновского излучения для решения задач производства полупроводников. Семейства продуктов этой категории позволяют выполнять все: от метрологии управления производственными процессами до исследований и разработок при определении характеристик тонких пленок и материалов. Метрологические инструменты XRF, XRD и XRR служат для измерения критических технологических параметров, таких как тонкая пленка: толщина, состав, шероховатость, плотность, пористость и кристаллическая структура, а технологические TXRF и VPD-TXRF инструменты используются для измерения загрязнения.

Анализ TXRF может определять загрязнение во всех производственных процессах, включая очистку, литье, травление, золение, пленки и т.д. Фирмой предлагается серия приборов метрологии поверхностного загрязнения - TXRF 3760, TXRF 3800e, TXRF310Fab и TXRF-V310.

Модель WaferX 310 представляет собой кульминацию 35-летнего опыта в рентгенофлуоресцентном анализе тонких пленок на кремниевых пластинах. Специально разработанная как инструмент для метрологии в процессе производства, система включает в себя технологию "bridge tool" — для обслуживания 6-дюймовых, 8-дюймовых, а также новейших 12-дюймовых пластин.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр WDA-3650 для анализа тонких пленок - новейший инструмент рентгеновской метрологии вносит значительный вклад в технологический контроль толщины металлической пленки, состава пленки и концентрации элементов благодаря новым функциям и дизайну с низким уровнем шума.

Приборы контроля качества – большое семейство спектрометров, ориентированных на решение проблем контроля качества продукции. Среди этой линейки приборов, отметим NEX QC, NEX QC+ и NEX QC+QuantEZ, представляющие собой высококачественные недорогие энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные (EDXRF) элементные анализаторы, которые обеспечивают широкий элементарный охват с помощью простого в освоении программного обеспечения QuantEZ и реализуют неразрушающий анализ от натрия (Na) до урана (U) практически в любой матрице, от твердых веществ и сплавов до порошков, жидкостей и суспензий. 

Сканирующие многоэлементные анализаторы третьего поколения NEX LS и NEX OL обеспечивают превосходную аналитическую производительность и надежность, измерительная головка EDXRF создана на основе настольных приборов высокого разрешения второго поколения. Благодаря проверенной технологии эти приборы обеспечивают быстрый, неразрушающий многоэлементный анализ - на вес покрытия, толщину покрытия и/или состав — для элементов от алюминия (Al) до урана (U).

Уникальный рентгенофлуоресцентный спектрометр AZX 400 с последовательной дисперсией длин волн (WDXRF) специально разработан для обработки очень больших и/или тяжелых образцов диаметром до 400 мм, толщиной 50 мм и массой 30 кг, эта система идеально подходит для анализа распыляемых мишеней, магнитных дисков или для метрологии многослойных пленок или элементного анализа больших образцов.

Комбинированные модели MFM310, ONYX 3000 и XHEMIS EX-2000 ориентированны на крупносерийное производство пластин толщиной до 200 мм.

Дифракционные детекторы – были разработаны для обеспечения оптимальной гибкости и минимального обслуживания и предложены на рынок: XSPA-400 ER пиксельный детектор с высоким энергетическим разрешением, способный проводить измерения 0, 1 и 2D и HyPix-3000 двумерный полупроводниковый детектор нового поколения с одним счетчиком фотонов с скоростью счета, превышающей 10⁶ cps / пиксель и практически без шума. Приборы HyPix-Arc 100° и HyPix-Arc 150° представляет собой изогнутый гибридный детектор рентгеновского излучения с подсчетом фотонов (HPC) для монокристаллических дифракционных приложений. Модели HyPix-6000HE и HyPix-Bantam - детекторы нового поколения высокой четкости с подсчетом фотонов (HPC). Большим преимуществом детекторов рентгеновского излучения высокой четкости является то, что каждый пиксель независим.

Анализаторы флуоресценции рентгеновского излучения с дисперсией по длине волны - приборы Micro-Z ULS и Micro-Z CL предназначены для анализа содержания серы  и хлора в дизельном топливе, бензине и других видах топлива имеют новую конструкцию, позволяющую измерять как пиковую, так и фоновую интенсивность серы и хлора.

Вспомогательное оборудование - специальная фокусирующая рентгеновская оптика (в том числе конфокальная) для дифракции рентгеновских лучей, поставки наборов реагентов, стандартных растворов, белков и аксессуаров для исследователей белков.

С более подробными характеристиками специализированных приборов, Вы можете по телефону 7-727-250-29-69, электронной почте или напрямую в нашем офисе.