Рентгеновские дифрактометры

Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex (XRD) шестого поколения - это универсальный порошковый дифракционный аналитический прибор, который может определять: идентификацию кристаллической фазы и её количественную оценку, процент кристалличности, размер и деформацию кристаллитов, уточнение параметров решётки, уточнение Ритвельда и молекулярную структуру. Широко используется, особенно в материаловедении и химии, а также в промышленности для технологических исследований и контроля качества. В стандартной комплектации каждый прибор поставляется с последней версией оригинального программного обеспечения smartLAB Studio-II. Последняя версия ПО предлагает важные новые функциональные возможности; в том числе метод фундаментальных параметров (FP) для более точного расчёта пиков, идентификацию фазы с использованием открытой базы данных кристаллографии (COD) и wizard для ab inito анализа кристаллической структуры.  

Дополнительную информацию о приборе и условиях его приобретения, вы можете получить, созвонившись с нашими менеджерами по телефону 8-727-250-29-69 в рабочее время.

Дифрактометр высокого разрешения SmartLab является самым доступным из известных сегодня. Возможно, самой оригинальной чертой данного дифрактометра является программное обеспечение Guidance software, которое предоставляет пользователю интеллектуальный интерфейс при проведении каждого эксперимента и был специально разработан для повышения производительности приборов этого типа при работе с тонкими плёнками, нано материалами, порошками или жидкостями. SmartLab дает возможность провести измерения, которые Вы хотите сделать и когда Вы хотите их сделать.

Настольная рентгеновская кристаллографическая система XtaLAB mini предназначена для автоматизированного трёхмерного (3D) определения химических структур молекул малого размера. Данный дифрактометр является самой последней моделью компании среди доступных монокристальных дифрактометров, позволяя в автоматическом режиме получать структуры публикационного качества для исследователей, которые не имеют специальной подготовки в области химической кристаллографии.

С более подробной информацией о рентгеновской кристаллографической системе XtaLAB mini, Вы можете  созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими специалистами.

Характеристики прибора:

• Мощность: 30 Вт.
• Не требуется внешнее охлаждение.
• Точность измерения не хуже ± 30 угл.сек.
• Ручное управление.
• Два рабочих места.

С более подробной информацией о рентгеновской дифракционной системе для определения ориентаций монокристаллов 2991F2 фирмы Rigaku, Вы можете ознакомиться, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими специалистами.

Компактная, полностью интегрированная с высоким разрешением система для анализа структуры молекул малого размера R-AXIS RAPID II является одной из новинок в серии рентгеновских дифракционных систем RAPID с детектором в виде изогнутой пластины изображения IP (imaging plate) большой площади. R-AXIS RAPID II сочетает в себе все компоненты, необходимые для высокоэффективной дифракционной системы, предоставляющей высокую производительность для большинства приложений прикладной и химической кристаллографии. Система работает с длинами волн от Cr до Ag без ущерба для качества данных. Значительная апертура позволяет легко получить весь спектр для любой длины волны. R-AXIS RAPID II является оптимальной системой для получения результатов при исследовании плотности заряда, исследовании диффузного рассеяния, микро-дифракции, измерениях слабо дифрагирующих неупорядоченных материалов, широкоугловое рассеяние рентгеновских лучей (WAXS), порошковую дифрактометрию, т.е. настолько универсален, что может заменить несколько инструментов, без ущерба для качества данных.

С более подробной информацией о монокристальном дифрактометре R-AXIS-RAPID II с IP-детектором корпорации Rigaku, Вы можете ознакомиться, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими специалистами.

В многофункциональном рентгеновском дифрактометре Ultima IV реализована автоматическая юстировка (все перемещения настраиваются в автоматическом режиме, а ручные операции при юстировке сведены к минимуму), а запатентованная Ригаку СВО (Cross Beam Optics) оптика позволяет исключить временные затраты при переходе от одной геометрии к другой (от фокусировки по Брэггу-Брентано к параллельному пучку), допускает ежедневное использование обоих геометрий без необходимости перенастройки системы, не подвержена износу и позволяет проводить качественный и количественный фазовый анализ, анализ тонких плёнок, анализ напряжений, локальный фазовый анализ, 3-x мерный структурный анализ, анализ многослойных структур, рентгеновскую рефлектометрию, анализ эпитаксиальных слоистых структур, анализ при низких и высоких температурах, объединённый DSC – XRD анализ.

Более подробную информацию о многофункциональном рентгеновском дифрактометре Ultima IV, Вы можете узнать, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими менеджерами.

Универсальный рентгеновский дифрактометр с пространственным детектором D/MAX-RAPID II является, пожалуй, наиболее универсальным X- рентгеновским дифрактометром в истории анализа материалов. Он производится уже более десяти лет и его характеристики постоянно улучшаются, в течение этого периода времени. Дифрактометр D/MAX RAPID II предназначен для решения широкого круга задач: порошковой дифрактометрии, микродифракции, рентгеновского рассеяния на больших углах, анализа структуры и остаточных напряжений и исследования структуры монокристаллов. Дифрактометр комплектуется изогнутым двумерным детектором (Image Plate) и двумя типами трубок: 3 кВт или высокоинтенсивной 1,2 кВт. Возможность анализа образцов размером от 10 микрон делает эту систему идеальной для неразрушающей идентификации малых частиц в различных образцах. D/MAX RAPID II оснащается CCD камерой с возможностью увеличения, что позволяет получать изображение области образца от 1 микрона. XY – картирование позволяет определить точное местонахождение включений в больших образцах. Области применения – геология, управление процессами в полупроводниках, судебная медицина и др.

Более подробную информацию об универсальном рентгеновском дифрактометре с пространственным детектором D/MAX-RAPID II, Вы можете узнать, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими менеджерами.

TTRAX III – первая в мире дифракционная система, собранная на базе мощного 18 кВт источника рентгеновского излучения, вращающегося анода и θ/θ конфигурации. В такой системе поверхность анализируемого образца всегда остаётся в горизонтальном положении, в то время как анод и детектор перемещаются по углам сканирования θ/θ вокруг образца. Такая схема позволяет проводить анализ свободных жидкостей при комнатной температуре, а также расплавов, полученных, например, в высокотемпературной приставке. Гониометрическая система TTRAX III может быть эффективно использована для определения функций радиального распределения жидкостей и расплавов, исследования структуры поверхностных границ и изучения превращений кристаллической структуры в материалах в процессе высокотемпературного нагрева. Стандартная порошковая рентгеновская дифракция значительно упрощена за счёт минимизации пробоподготовки. В зависимости от необходимости и специфики того или иного анализа могут быть использованы различные детекторы. Оптимальный детектор может быть выбран среди сцинтилляционных (SC), полупроводниковых, охлаждаемых методом Пелтье, твердотельных (SSD), изогнутых позиционно-чувствительных (Inel PSD) детекторов, либо "imaging plate" систем. Широко доступны и различные дифрактометрические приставки.

С более подробной информацией о рентгеновском дифрактометре TTRAX III, Вы можете ознакомиться, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими специалистами.

NANO-Viewer – комплексное устройство для изучения рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами (SAXS) предназначенное для анализа размеров частиц и пор от 1 до 100 нм в различных материалах. Состоит из микрофокусного генератора рентгеновского излучения с вращающимся антикатодом и фокусирующего зеркала. Для получения информации о нано размерных структурах используется двумерный детектор (Image Plate). 

Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer осуществляет характеризацию таких материалов, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д., начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры). Области применения – нано технологии, полимеры и гели, биология, охрана окружающей среды и др.

Дополнительную информацию о дифрактометре малоуглового рентгеновского рассеяния NANO-Viewer фирмы Rigaku, вы можете получить, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими менеджерами.

Характеристики прибора:

• Мощность: 30 Вт.
• Не требуется внешнее охлаждение.
• Точность измерения не хуже ± 30 угл.сек.
• Автоматизированный анализ.
• Стандартный размер кристаллов диаметр 50.. 150 мм, длина/толщина 10.. 300 мм, вес до 30 кг.
• Стандартный размер пластин диаметр 50.. 150 мм, длина/толщина 0,5.. 10 мм, вес до 30 кг.

С более подробными характеристиками автоматизированного дифрактометра для определения ориентаций монокристаллов FSAS II от Rigaku, Вы можете ознакомиться, созвонившись по телефону 8-727-250-29-69 с нашими менеджерами.