Рентгеновские дифрактометры

Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex – прибор 5-го поколения, предназначенный для проведения качественного и количественного анализа поликристаллических материалов. Простая установка и эксплуатация, компактные размеры и несложное обучение пользователей, тем не менее, обеспечивают значительную скорость получения результатов при высокой чувствительности с помощью новаторских технологических усовершенствований.

Технические характеристики MiniFlex 300/600:

• Генератор - 300 Вт / 600 Вт, управляется с компьютера.
  
• Гониометр - вертикальный R = 150 мм.
• Щель DS - 1.25 град. или 0.625 град., варьируемые на малых углах.
• Щели SS и RS - SS = 1.25 град.; RS = 0.3 мм.
• Монохроматизация - Кβ-фильтр, монохроматор (опция).
• Детектор - сцинтилляционный счетчик (Ø 23 мм)
• Габариты, вес - 560х375х655 мм, 76 кг.
• Функции - авто вкл/выкл высокого напряжения.

В многофункциональном рентгеновском дифрактометре Ultima IV реализована автоматическая юстировка, а запатентованная Ригаку СВО оптика позволяет исключить временные затраты при переходе от одной геометрии к другой, допускает ежедневное использование обоих геометрий без необходимости перенастройки системы, не подвержена износу и позволяет проводить качественный и количественный фазовый анализ, анализ тонких плёнок, анализ напряжений, локальный фазовый анализ, 3-x мерный структурный анализ, анализ многослойных структур, рентгеновскую рефлектометрию, анализ эпитаксиальных слоистых структур, анализ при низких и высоких температурах, объединённый DSC – XRD анализ:

• Радиус гониометра: 185 и 285 мм.
• Приставка вращения образца – усреднение ошибки интенсивности при анализе образцов с крупным размером зерна.
• Приставка для капилляров – стеклянные капилляры.
• Автоматический сменщик образцов – автоматическая смена образцов (до 10 шт.).
• Многофункциональная приставка – подвижные χ, ɸ, и Z оси для анализа текстуры и остаточных напряжений.
• SAXS модуль – анализ размера наночастиц (на просвет).
• Модуль локального анализа – дифрактометрический анализ локальных областей с использованием автоматической xyz платформы.
• Усовершенствованная приставка для тонких пленок – приставка с прецизионной юстировкой образца.
• Ge щелевой кристалл-монохроматор – дифрактометрия высокого разрешения, рефлектометрии и анализ кривых качания.
• Высокотемпературная камера HT 1500 – 1400°С (в инертном газе) и до 1500°С (в вакууме).
• Камера для низких и средних температур – 180°С – 300°С (в вакууме).
• Дифференциальный сканирующий калориметр – одновременный DSC – XRD анализ при Т до 350°С.
• Скоростной полупроводниковый многоканальный одномерный детектор D-tex Ultra - энергетическое разрешение менее 25%, отрезает Kb линию и фон, при скорости счета в 100 раз выше, чем у сцинтилляционного счётчика и динамическим диапазоном свыше 1 млн. имп. на канал.

Дифрактометр высокого разрешения SmartLab является самым доступным из известных сегодня. Возможно, самой оригинальной чертой данного дифрактометра является программное обеспечение Guidance software, которое предоставляет пользователю интеллектуальный интерфейс при проведении каждого эксперимента и был специально разработан для повышения производительности приборов этого типа при работе с тонкими плёнками, нано материалами, порошками или жидкостями.

SmartLab дает возможность провести измерения, которые Вы хотите сделать и когда Вы хотите их сделать.

Универсальный рентгеновский дифрактометр с пространственным детектором D/MAX-RAPID II является, пожалуй, наиболее универсальным X- рентгеновским дифрактометром в истории анализа материалов. Он производится уже более десяти лет и его характеристики постоянно улучшаются, в течение этого периода времени.

Дифрактометр D/MAX RAPID II предназначен для решения широкого круга задач: порошковой дифрактометрии, микродифракции, рентгеновского рассеяния на больших углах, анализа структуры и остаточных напряжений и исследования структуры монокристаллов. Дифрактометр комплектуется изогнутым двумерным детектором (Image Plate) и двумя типами трубок: 3 кВт или высокоинтенсивной 1,2 кВт. Возможность анализа образцов размером от 10 микрон делает эту систему идеальной для неразрушающей идентификации малых частиц в различных образцах. D/MAX RAPID II оснащается CCD камерой с возможностью увеличения, что позволяет получать изображение области образца от 1 микрона. XY – картирование позволяет определить точное местонахождение включений в больших образцах.

Области применения – геология, управление процессами в полупроводниках, судебная медицина и др.

Компактная, полностью интегрированная с высоким разрешением система для анализа структуры молекул малого размера R-AXIS RAPID II является одной из новинок в серии рентгеновских дифракционных систем RAPID с детектором в виде изогнутой пластины изображения IP (imaging plate) большой площади.

R-AXIS RAPID II сочетает в себе все компоненты, необходимые для высокоэффективной дифракционной системы, предоставляющей высокую производительность для большинства приложений прикладной и химической кристаллографии. Система работает с длинами волн от Cr до Ag без ущерба для качества данных. Значительная апертура позволяет легко получить весь спектр для любой длины волны. R-AXIS RAPID II является оптимальной системой для получения результатов при исследовании плотности заряда, исследовании диффузного рассеяния, микро-дифракции, измерениях слабо дифрагирующих неупорядоченных материалов, широкоугловое рассеяние рентгеновских лучей (WAXS), порошковую дифрактометрию, т.е. настолько универсален, что может заменить несколько инструментов, без ущерба для качества данных.

Настольная рентгеновская кристаллографическая система XtaLAB mini предназначена для автоматизированного трёхмерного (3D) определения химических структур молекул малого размера. Данный дифрактометр является самой последней моделью компании среди доступных монокристальных дифрактометров, позволяя в автоматическом режиме получать структуры публикационного качества для исследователей, которые не имеют специальной подготовки в области химической кристаллографии.

XtaLAB mini является мощным инструментом для исследований химической кристаллографии и содержит:

• Генератор 600 Вт со стандартной трубкой.
• Рентгеновская оптика SHINE.
• Расстояние до детектора 50 мм.
• Чувствительность детектора не хуже 21 е/пикс/фотон.
• Темновой ток меньше 0.1 e/пикс/с.
• Съемная головка для центровки кристалла.
• Съемка всей сферы за 3 сканирования.
• Криосистема.

TTRAX III – первая в мире дифракционная система, собранная на базе мощного 18 кВт источника рентгеновского излучения, вращающегося анода и θ/θ конфигурации. В такой системе поверхность анализируемого образца всегда остаётся в горизонтальном положении, в то время как анод и детектор перемещаются по углам сканирования 8/8 вокруг образца.

Такая схема позволяет проводить анализ свободных жидкостей при комнатной температуре, а также расплавов, полученных, например, в высокотемпературной приставке. Гониометрическая система TTRAX III может быть эффективно использована для определения функций радиального распределения жидкостей и расплавов, исследования структуры поверхностных границ и изучения превращений кристаллической структуры в материалах в процессе высокотемпературного нагрева. Стандартная порошковая рентгеновская дифракция значительно упрощена за счёт минимизации пробоподготовки. Широко доступны и различные дифрактометрические приставки.

Новаторский универсальный оптический модуль CBO (Cross Beam Optics) позволяет чрезвычайно легко переключать прибор в различные режимы съёмки образца: фокусирующего метода, метода параллельного пучка многослойной плёнки, малоуглового рентгеновского рассеяния, микроскопических размеров, отражения, высокого разрешения тонкой плёнки или In-Plane.

Отличительные особенности дифрактометра TTRAX III:8/8 дизайн для горизонтальной установки образца.

NANO-Viewer – комплексное устройство для изучения рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами (SAXS) предназначенное для анализа размеров частиц и пор от 1 до 100 нм в различных материалах. Состоит из микрофокусного генератора рентгеновского излучения с вращающимся антикатодом и фокусирующего зеркала. Для получения информации о нано размерных структурах используется двумерный детектор (Image Plate).

Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer осуществляет характеризацию таких материалов, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д., начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры).

Области применения – нано технологии, полимеры и гели, биология, охрана окружающей среды и др.

Характеристики прибора:

• Мощность: 30 Вт.
• Не требуется внешнее охлаждение.
• Точность измерения не хуже ± 30 угл.сек.
• Ручное управление.
• Два рабочих места.

Характеристики прибора:

• Мощность: 30 Вт.
• Не требуется внешнее охлаждение.
• Точность измерения не хуже ± 30 угл.сек.
• Автоматизированный анализ.
• Стандартный размер кристаллов диаметр 50.. 150 мм, длина/толщина 10.. 300 мм, вес до 30 кг.
• Стандартный размер пластин диаметр 50.. 150 мм, длина/толщина 0,5.. 10 мм, вес до 30 кг.