Партнерские программы для образования, науки и промышленности
Аналитические приборы и детекторы (Tescan)
Фирма предлагает обширный список позиций дооснащения основного оборудования и расширяющего возможности исследователей.
Аналитическое оборудование - Essence EDS выполняет анализ элементного состава в реальном времени в активном окне сканирования SEM и является полностью интегрированным энергодисперсионным спектрометром с размером кристалла ЭДС-детектора 30 мм2; Ultim Extreme разработан для анализа наноструктур со сверхвысоким пространственным разрешением и предназначен для исследований при малых ускоряющих напряжениях от 1 до 7кэВ и пространственным разрешением до 10 нм для массивных образцов; Ultim MAX детектор SDD нового поколения обеспечивает возможность наблюдать распределение элементов в образце в реальном времени – в процессе его движения и просмотре при выборе участка для более детальных исследований; INCA Wave волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (ВДС); INCA Energy+ входит в комплект при единовременной поставке двух спектрометров и позволяет выбирать тип спектрометра для каждого элемента, что существенно повышает производительность анализа; Nenovision LiteScopeTM модуль для сканирующей зондовой микроскопии, интегрируемый в камеру сканирующего электронного микроскопа, с помощью данной методики изображение заданного участка поверхности образца может быть получено одновременно в SEM и SPM режимах в общей системе координат с реализацией широкого спектр режимов зондового сканирования (AFM, EFM, MFM, STM).
Детекторы представлены оригинальными устройствами - детектор SE конструкции типа Эверхардта-Торнлей вторичных электронов для получения изображений с топографическим контрастом; детектор BSE отраженных электронов для получения изображения с информацией о вариациях состава на основе контраста по среднему атомному номеру и обладают низким уровнем шума, не чувствительны к вторичным электронам и имеют высокое быстродействие; детектор R-STEM прошедших электронов позволяет проводить анализ тонких пленок и ламелей с высокой разрешающей способностью; детектор SITD вторичных ионов сцинтилляционного типа расширяет аналитические возможности двулучевых микроскопов TESCAN FIB-SEM и позволяет регистрировать положительные вторичные ионы (SI), генерируемые первичным ионным пучком.
Сопутствующее оборудование представлено напылительными установками, приборами микромеханической обработки и ионной полировки, устройствами сушки в критической точке, системами измерения и подавления ЭМ.
Остались вопросы или желаете ознакомиться с более подробной информацией о представленных материалах, обратитесь к нашим менеджерам через страницу Контакты.
Готовы сделать предложение, от которого трудно отказаться!